HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法による酸化物超薄膜の電子線誘起還元の評価(Evaluation of Electron Induced Reduction of Oxide Ultra-thin Films by Factor Analysis and Auger Electron Spectroscopy.)大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2006.NIMS著者大西 桂子藤田 大介木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:29:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:36:13 +0900