SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析
(Aging analysis of reference sample surface using helium ion microscopy)

著者大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子.
会議名2020年日本表面真空学会学術講演会
発表年2020
言語Japanese

▲ページトップへ移動