SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Profile > ONISHI, Keiko

ONISHI, Keiko

ONISHI, Keiko (大西 桂子) 0000-0003-3979-8905

Address
305-0047 1-2-1 Sengen Tsukuba Ibaraki JAPAN [Access]

[Research papers] | [Books] | [Proceedings] | [Presentations] | [Misc] | [Published patent applications]

Research papers TSV

2021
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年変化の解析. 表面と真空. 64 [9] (2021) 424-429 10.1380/vss.64.424 Open Access
2018
  1. Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. In situ voltage-application system for active voltage contrast imaging in helium ion microscope. Journal of Vacuum Science & Technology B. 36 [4] (2018) 042903 10.1116/1.5031086
2017
  1. Shuang Xie, Mingsheng Xu, Shuyun Huang, Tao Liang, Shengping Wang, Hongfei Li, Hideo Iwai, Keiko Onishi, Nobutaka Hanagata, Daisuke Fujita, Xiangyang Ma, Deren Yang. Inhomogeneous composition distribution in monolayer transition metal dichalcogenide alloys. Materials Research Express. 4 [4] (2017) 045004 10.1088/2053-1591/aa6859
2016
  1. Hongxin Wang, Hideki Masuda, Hideaki Kitazawa, Keiko Onishi, Masamichi Kawai, Daisuke Fujita. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. Japanese Journal of Applied Physics. 55 [10] (2016) 106602 10.7567/jjap.55.106602
2014
  1. Astari Dwiranti, Tohru Hamano, Hideaki Takata, Shoko Nagano, Hongxuan Guo, Keiko Onishi, Toshiyuki Wako, Susumu Uchiyama, Kiichi Fukui. The Effect of Magnesium Ions on Chromosome Structure as Observed by Helium Ion Microscopy. Microscopy and Microanalysis. 20 [01] (2014) 184-188 10.1017/s1431927613013792
2013
  1. 大西 桂子. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による先端ナノマテリアル評価技術の開発と共用. 顕微鏡. 48 [3] (2013) 154-158
  2. 大西 桂子. 国内初、「共用」ヘリウムイオン顕微鏡とは. 高分子. 62 [11] (2013) 681-682
2011
  1. Keiko ONISHI, Daisuke FUJITA. Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images Using Nano-structures with Given Shapes. Analytical Sciences. 27 [2] (2011) 157-161 10.2116/analsci.27.157
2010
  1. Jian-Hua Gao, Daisuke Fujita, Ming-Sheng Xu, Keiko Onishi, Satoru Miyamoto. Unique Synthesis of Few-Layer Graphene Films on Carbon-Doped Pt83Rh17 Surfaces. ACS Nano. 4 [2] (2010) 1026-1032 10.1021/nn901255u
  2. Xinli Guo, Daisuke Fujita, Keiko Onish. Au/ITO dual-layer-coated optical fiber probe for multifunctional scanning tunneling microscopy. Nanotechnology. 21 [4] (2010) 045204 10.1088/0957-4484/21/4/045204
2009
  1. Mingsheng Xu, Daisuke Fujita, Keiko Onishi, Kunichi Miyazawa. Improving Accuracy of Sample Surface Topography by Atomic Force Microscopy. Journal of Nanoscience and Nanotechnology. 9 [10] (2009) 6003-6007 10.1166/jnn.2009.1232
  2. Mingsheng Xu, Daisuke Fujita, Keiko Onishi. Reconstruction of atomic force microscopy image by using nanofabricated tip characterizer toward the actual sample surface topography. Review of Scientific Instruments. 80 [4] (2009) 043703 10.1063/1.3115182
2008
  1. D Fujita, M Kitahara, K Onishi, K Sagisaka. An Atomic resolution scanning tunneling microscope that applies external tensile stress and strain in an ultrahigh vacuum. Nanotechnology. 19 [2] (2008) 025705 10.1088/0957-4484/19/02/025705
2007
  1. X L Guo, D Fujita, N Niori, S Keisuke, K Onishi. Nanoscale electroluminescence from n-type GaAs(110) in tunnel junctions. Nanotechnology. 18 [19] (2007) 195201 10.1088/0957-4484/18/19/195201
2006
  1. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子, 大木 泰造. 走査型トンネル顕微鏡による低次元ナノ構造の創成と計測. 真空. 49 [11] (2006) 653-658
  2. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, YAKABE, Taro, Kazuhiro Yoshihara. Electron Beam Effects on AES Depth Profiling of SiO2 Thin Film on Si(001): a Factor Analysis Study. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 13 [2] (2006) 190-199
2004
  1. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. 走査型トンネル顕微鏡によるナノ創製とナノ計測の融合：アクティブ・ナノ計測. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 11 [3] (2004) 188-195
  2. D. Fujita, T. Kumakura, K. Onishi, K. Sagisaka, T. Ohgi, M. Harada. Sprout-like growth of carbon nanowires on a carbon-doped Ni(111) surface. Surface Science. 566-568 (2004) 361-366 10.1016/j.susc.2004.05.073
  3. Daisuke Fujita, Keiko Onishi, Noriko Niori. Light emission induced by tunneling electrons from surface nanostructures observed by novel conductive and transparent probes. Microscopy Research and Technique. 64 [5-6] (2004) 403-414 10.1002/jemt.20099
  4. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, NIORI, NORIKO. Light Emission Induced by Tunneling Electrons from p-type GaAs(110) Surfaces Observed at Near-field by Conductive Optical Fiber . NANOTECHNOLOGY. (2004)
  5. D. Fujita. Novel local density of state mapping technique for low-dimensional systems. Journal of Electron Microscopy. 53 [2] (2004) 177-185 10.1093/jmicro/53.2.177

Books TSV

2021
  1. 大西 桂子. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡. 朝倉書店, 2021, 4.
2018
  1. ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Scanning Helium Ion Microscope. Springer, 2018

Proceedings TSV

2010
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. ＡＦＭ像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較. Journal of the Vacuum Society of Japan. (2010) 357-360
2009
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, XU, Mingsheng. Standardization of nanomaterials characterization by scanning probe microscopy for societal acceptance. JOURNAL OF PHYSICS：CONFERENCE SERIES. (2009) 012002-1-012002-6
2008
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果の補正. JOURNAL OF THE VACUUM SOCIETY OF JAPAN. (2008) 165-168
2007
  1. GUO, XINLI, FUJITA, Daisuke, NIORI, NORIKO, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Scanning tunneling microscopy luminescencefrom nanoscale surface of GaAs(110). SURFACE SCIENCE. (2007) 5280-5283
  2. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用 . 真空. (2007) 202-204
2005
  1. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. (2005) 19-26
  2. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems. (2005) 79-80
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Studies on Sprout-like Growth of Carbon Nanowires on Carbon-Doped Ni Surfaces. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (2004) 202-203

Presentations TSV

2023
  1. 藤丸朋泰, 木本裕大, 佐藤翔一, 宮内 直弥, 大西 桂子, 艸分 倫子, 板倉 明子, 松本佳久. バナジウムを透過する水素原子の水素顕微鏡による可視化. NanospecFY2022mini. 2023
  2. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡の像コントラストの検討. NanospecFY2022mini. 2023
2022
  1. ONISHI, Keiko, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke, YAKABE, Taro, ITAKURA, Akiko. Molecular Structure of Sputtered Neutral Species with Cluster Ion. 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22. 2022
2021
  1. 関 禎子, 永野 聖子, 大西 桂子, 後藤光昭, 赤池敏宏. 生体適合性を有する糖鎖高分子の 液中での形状・物性のAFMによるナノスケール解析. 第82回応用物理学会秋季学術講演会. 2021
  2. 関 禎子, 大西 桂子, 我妻　美千留, 長岡　正人, 後藤　光昭, 小畠　英理, 赤池　敏宏. iPS細胞の未分化維持を担う細胞培養基質としてのEカドヘリンキメラ抗体の液中観察による分子構造解析. 第20回日本再生医療学会総会. 2021
2020
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020
  2. SAKURAI, Makoto, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, JOACHIM, Christian. Nanofabrication of gold nanogears using focused He+ beam on a sapphire surface. The 13th MANA International Symposium 2020 jointly with ICYS. 2020
2019
  1. 永野 聖子, 大西 桂子, ヘリウムイオン顕微鏡像の走査電子顕微鏡像との比較. 2019年表面真空学会学術講演会. 2019
2018
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope. ACSIN-14. 2018
  2. 板倉 明子, 矢ヶ部 太郎, 土佐 正弘, 大西 桂子, 宮内 直弥, 吉田肇, 間瀬一彦, 青柳里果, 土橋和也. 先進イナート表面への挑戦：極低活性・極低反応性表面を実現する材料/処理技術の探索とその計測技術の調査. TIA-イナート・TIA-NEG合同キックオフミーティング. 2018
2017
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical Potential Imaging of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  3. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察. 2017年真空・表面科学合同講演会. 2017
  4. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical potential distribution of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. 15th GREEN Symposium. 2017
  5. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope. Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017
  6. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会　第2回関東支部講演大会. 2017
2016
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による構造色発現の解析. 第4回メゾスコピック研究会. 2016 Invited
  2. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced In Situ Multi-scale Characterization of Mechanical Properties of Carbon-fiber-reinforced Plastic. NIMS WEEK 2016. 2016
  3. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. 日本表面科学会関東支部第4回関東支部セミナー表面・薄膜分析シリー. 2016
  4. 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介. Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic. 第2回 内閣府SIP革新的構造材料 先端計測拠点国際会議. 2016
  5. 大西 桂子. 走査型ヘリウム顕微鏡で何ができるか. 実用顕微評価技術セミナー2016. 2016
2015
  1. 藤田 大介, 石田 暢之, 増田 秀樹, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. Cを固溶させたPt(111)基板に表面析出した単層グラフェンのマルチスケール解析. 2015年真空・表面科学合同講演会　第35回表面科学学術講演会　講演要. 2015
  2. 大西 桂子, 酒井 智香子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加熱中その場観察. 2015年真空・表面科学合同講演会. 2015
  3. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, WANG, Hongxin, MASUDA, Hideki. Nanoscale Characterization of Structural Composite Materials. 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議　SIP-IMASM 2015. 2015
  4. 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介. 共用・計測合同シンポジウム2015. 2015
2014
  1. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 岩崎 多摩樹. Nanoscale Metrology and Characterization of Nano-objects by Scanning Probe Microscopy. IUMRS-ICA 2014. 2014
  2. 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 岩崎 多摩樹. Quantitative Topography Measurement by Atomic Force Microscopy using Probe Shape Function. The 4th International Symposium on SPM Standardization (SPM2014). 2014 Invited
  3. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. 複合極限場走査型プローブ顕微鏡の開発. SATテクノロジー・ショーケース2014. 2014 Invited
2013
  1. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. AFM探針形状のその場評価法と画像補正法の開発. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  2. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. Development of SPM Data Treatment Open Software Based on ISO Standard Data Transfer Format. ACSIN-12 & ICSPM21. 2013
  3. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析. 第22回インテリジェント材料／システム シンポジウム. 2013
2012
  1. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介. NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー. 2012 Invited
  2. 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介. ISO標準データ転送フォーマットに基づくSPMデータ処理プログラムの開発. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  3. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析. 第53回真空に関する連合講演会. 2012
  4. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, XU, Mingsheng. Standardization of Data Treatment and Management of Scanning Probe Microscopy. 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012 Invited
  5. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko. GUIDELINE FOR RESTORATION PROCEDURE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGES DILATED BY FINITE PROBE SIZE. The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012
  6. FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko. GUIDELINE FOR OPTIMIZATION OF SCANNING CONDITIONS FOR ATOMIC FROCE MICROSCOPY TOPOGRAPHY IMAGING. The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM. 2012
2011
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. ナノ線幅計測のためのAFM像探針形状効果補正. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  2. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工. 日本顕微鏡学会学術講演会（第67回）. 2011
2010
  1. 藤田 大介, 岩崎 多摩樹, 徐 明生, 大西 桂子. International Standardization of Nanoscale Measurement and Characterization. 第20回日本MRS学術シンポジウム. 2010 Invited
  2. FUJITA, Daisuke, KUMAKURA, Tsuyako, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke. High temperature in situ AFM/STM observation of decomposition and cleaning process of ultrathin SiO2 films on Si(111) surfaces i. 18th International Vacuum Congress. 2010
  3. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko. Probe artifacts and image reconstruction. 13th International Conference on Non-Contract Atomic Force Micro. 2010
2009
  1. 大西桂子. ＡＦＭ像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較. 第50回真空に関する連合講演会. 2009
  2. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン電子同時照射によるSi酸化膜/Si(001)基板のナノ切削加工. 第３回バイオ・ナノテクフォーラムシンポジウム. 2009
  3. 藤田 大介, 徐 明生, 大西 桂子, 高建華, 鷺坂 恵介. Formation of Graphene Layers and Related Nano-Carbons on C-doped Metal Surfaces by Bulk-to-Surface Precipitation. 9th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2009 Invited
2008
  1. 郭 新立, 大西 桂子, 藤田 大介. STM-induced photon emission from nanoscale surfaces of GaAs and Ag film using a metal/ITO dual layer coated fiber probe. 8th International Conference on Nano-Molecular Electronics. 2008
  2. 大西 桂子, 藤田 大介. Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images using Given-shape Nano-structure. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  3. 郭 新立, Shimada, 大西 桂子, Kitajima, 藤田 大介. Self-assembled Au nanoparticle structures on highly ordered pyrolytic graphite wafer. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology. 2008
  4. 藤田 大介, 大西 桂子. イオン照射下における電子ビーム走査による微細加工. VACUUM2008 第30回真空展. 2008
  5. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, XU, Mingsheng. Development of AFM Image Restoration Algorithm and its Applications to Nanomaterials. 第69回応用物理学会学術講演会 シンポジウム. 2008 Invited
  6. 大西 桂子, 藤田 大介. 直方体ナノ構造を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正. 第69回応用物理学会学術講演会. 2008
  7. 大西 桂子, 藤田 大介. 球状ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果補正. 第55回応用物理学関連連合講演会. 2008
  8. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, MIYAZAWA, Kunichi. Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy. 8th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2008 Invited
2007
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. Novel Image Restoration Method for SPM Topography Data Containing Tip-induced Distortions using Standard Nanospheres. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2007
  2. FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko. Standardization of Three-dimensional Topography Imaging . 4th International Symposium on Practical Surface Analysis . 2007
  3. 郭 新立, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介. Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07. 2007
  4. 大西桂子. ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果の補正. 第48回真空に関する連合講演会. 2007
  5. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. Dopant-related photon emission induced by scanning tunneling microscope from the surface of GaAs(110). 9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, . 2007
  6. 大西 桂子, 藤田 大介. ＡＦＭ探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測. 第27回表面科学講演大会. 2007
  7. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線援用スパッタリングによる微細加工の試み. 第68回応用物理学会学術講演会. 2007
  8. 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress. 2007
  9. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, KUMAKURA, Tsuyako. Novel Nano-carbons Synthesized by Surface Precipitation in Ultrahigh Vacuum. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  10. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 北原 昌代. Practical Image Restoration Method for Scanning Probe Microscopy. International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007. 2007
  11. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. Photon emission induced from nanoscale surfaces of semiconductors by a scanning tunneling microscope using a conductive optical fiber probe. International Conference on Nanoscience & Technology, China 2007. 2007
  12. リヒテローヴァ イワーナ, 藤田 大介, 大西 桂子, Jiri Pavlu, Jana Safrankova, Zdenek Nemecek. Modification of spherical dust grain structure: Laboratory simulation. AGU Spring 2007 Joint Assembly. 2007
  13. 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 低次元カーボンナノ構造被膜の創製・評価と応用. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  14. 大西 桂子, 藤田 大介. SiO2薄膜の電子線照射による微細加工技術の開発. 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2007
  15. 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子. Characterization and Application of Novel Nano-carbons Synthesized by. 7th International Symposium on Biomimetic Materials Processing. 2007 Invited
2006
  1. 大西 桂子, 藤田 大介. プローブ先端形状とＡＦＭ像からのノイズの影響を考慮した実表面形状の推測. 第26回表面科学講演大会. 2006
  2. 大西桂子. SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用 . 第47回 真空に関する連合講演会. 2006
  3. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製とSPM応用. 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006
  4. 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. N-GaAs(110) ナノ表面のSTM誘起発光. The tenth ISSP International Symposium　on Nanoscience at Surfac. 2006
  5. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko. Development of Image Restration Techniques in Scanning Probe Microscopy. 2nd Int. Symp. Standard Materials & Metrology for Nanotechnology. 2006
  6. 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子. 走査型トンネル顕微鏡によるナノ構造創製と量子効果. 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2006 Invited
  7. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法による酸化物超薄膜の電子線誘起還元の評価. 第１５回インテリジェント材料／システムシンポジウム. 2006
2005
  1. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 走査型オージェ顕微鏡およびファクターアナリシスによるSiO2/Si超薄膜の電子線誘起還元過程の解析. 第２５回表面科学講演大会. 2005
  2. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価. 第４６回真空に関する連合講演会. 2005
  3. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. 多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析. 2005年度 実用表面分析講演会. 2005
  4. 大西 桂子, 藤田 大介. Nano-characterization of Beam-irradiation Effects on SiO2/Si Interfaces using Factor Analysis and Auger Electron Microscopy.. 第6回インテリジェント材料・システム国際会議. 2005
  5. 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介. 走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005 Invited
  6. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見. 日本物理学会2005年春季大会. 2005
  7. 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 固溶炭素の表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製. 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2005
  8. 大西 桂子, 藤田 大介. ファクターアナリシスによる酸化物／半導体表面の電子線照射効果の評価. 第14回インテリジェント材料／システムシンポジウム. 2005
  9. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 応力歪場印加可能な原子分解能走査トンネル顕微鏡の開発. 第52回応用物理学関係連合講演会　　　　　　. 2005
2004
  1. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke. STM Observation of Stress-induced Nano-Domain Redistribution on Si(100) Surfaces. 第15回日本MRS学術シンポジウム　　　　　　. 2004
  2. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介. 金属的なナノドットやナノワイヤの創製のためのSTM探針. 1st International Symposium on the Functionality of Organized Na. 2004
  3. 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆. ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価. 第24回表面科学講演大会. 2004
  4. 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介. 超高真空応力歪場環境原子分解能2探針走査プローブ顕微鏡の開発. 第24回表面科学講演大会. 2004
  5. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, NIORI, NORIKO. Tunneling-Electron Induced Luminescence Mapping on a p-type GaAs(110) Surface by UHV-LT-STM with a Conductive Optical Fiber Prob. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  6. 藤田 大介, 大西 桂子, 新居 周子. p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測. 日本物理学会第59回年次大会. 2004
  7. 藤田 大介, 大西 桂子, 肖 占文, 徐 明祥, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. 極限環境におけるナノ構造の創製と評価. 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム（JAPAN NANO 2004）. 2004
  8. 大西 桂子, 藤田 大介. Development of a Web Database System for Active-Nano Characterization and Technology. The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields. 2004

Misc TSV

2005
  1. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo. EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY. Proceedings of APF10. (2005) 19-26
  2. FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo. Exploration of Novel Nano Functionalitiy using Scanning Tunneling Microscopy with Active Operations. Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems. (2005) 79-80
2004
  1. Zhanwen Xiao, Mingxiang Xu, Taizo Ohgi, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. Removal of Si(111) wafer surface etch pits generated in ammonia-peroxide clean step. Applied Surface Science. 221 [1-4] (2004) 160-166 10.1016/s0169-4332(03)00876-6
  2. FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako. Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Studies on Sprout-like Growth of Carbon Nanowires on Carbon-Doped Ni Surfaces. Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (2004) 202-203

Published patent applications TSV

  1. グラフェン被覆部材とその製造方法 (2011)
  2. グラフェン被覆部材の製造方法 (2010)
  3. 超高真空走査型プローブ顕微鏡 (2006)
  4. 自己再生型カーボンナノチューブ・グラファイト混合膜の形成方法 (2004)
  5. 低ガス放出及び低２次電子放出材料 (2003)
  6. 走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 (2002)
  7. 半導体量子箱の形成方法 (1998)

▲ Go to the top of this page