HOME > 口頭発表 > 書誌詳細AFM探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測(Precise Measurement of Nanoparticles Size by AFM Tip Shape Calibration)大西 桂子, 藤田 大介. 第27回表面科学講演大会. 2007.NIMS著者大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:51:11 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:59:18 +0900