HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ファクターアナリシスによる酸化物/半導体表面の電子線照射効果の評価(Evaluation of Electron Irradiation Effect onOxide/Semiconductor by Factor Analysis.)大西 桂子, 藤田 大介. 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2005.NIMS著者大西 桂子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:10:56 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:17:04 +0900