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論文 TSV

2013
  1. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. オージェ電子分光法. ぶんせき. 11 (2013) 671-677
2010
  1. M. Shimoda, T. Konishi, K. Tateishi, T. Toujyou, S. Tsukamoto, N. Nishiwaki, M. Arisawa, N. Hoshiya, S. Shuto, N. Isomura, H. Yokota, Y. Furukawa, K. Iizuka, T. Ogiwara, Y. Isozaki, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, S. Ueda, K. Kobayashi. Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of palladium catalysts immobilized on a GaAs(001) surface. Journal of Applied Physics. 108 [2] (2010) 024309 10.1063/1.3456507
  2. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kα. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 7 (2010) 012010 10.1088/1757-899x/7/1/012010

書籍 TSV

会議録 TSV

2010
  1. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kα. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. 2010, 012010-1-012010-6
  2. ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, TAKEGUCHI, Masaki, Yuji Oba, Takashi Inami. The Effect of Ca on the Reduction of CaO Doped FeO by Carbon. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. 2010, 352-353
2009
  1. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 2009, 254-258
  2. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder . JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 2009, 246-248
2007
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング(名古屋). 2007, 1-22
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング(東京). 2007, 1-21

口頭発表 TSV

2020
  1. 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹. 三次元オージェ分析による実用材料の評価. 日本分析化学会第80回分析化学討論会. 2020
2011
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた極薄膜多層試料のオージェ深さ方向分析. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 稲見隆. SiO2含有FeOの溶融温度域での挙動TEM内その場観察. 日本金属学会平成23年度秋期講演大会. 2011
  3. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度,高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 2011年度実用表面分析講演会. 2011
  4. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部 秀人, 稲見 隆. 二酸化ケイ素を少量含む酸化鉄の溶融条件下における挙動のTEM内動的解析. 2011年度 実用表面分析講演会(PSA-11). 2011
  5. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部 秀人, 稲見 隆. シリカ含有ウスタイトの溶融温度域での炭素との反応TEM内解析. 日本鉄鋼協会平成23年秋期講演大会. 2011
  6. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 日本分析化学会第60年会. 2011
  7. TANAKA, Akihiro, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, IWAI, Hideo, OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Summary of the VAMAS Round-Robin Test for Practical Analyses on the Electron Beam Damage to SiO2/Si Specimens. ECASIA 2011. 2011
  8. 依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫. 原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析. 集積回路研究会. 2011
2010
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置を用いた分析. 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所セミナー. 2010
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場祐次, 稲見隆. 酸化鉄/炭素界面反応におけるカルシウムの影響のその場観察. 平成22年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2010
  3. 谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, K. J. Kim. 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  4. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  5. FUKUSHIMA, Sei, Yamauchi Yasuo, Akihiro Tanaka, Watanabe Katsumi, OGIWARA, Toshiya, Suzuki Mineharu, Keisuke Goto. The Preliminary Experimental Evaluation of The Signal Dispersion ; AES. 5th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2010
  6. Hiroki TANISHIKI, OGIWARA, Toshiya, Takaharu NAGATOMI, Yoshizo TAKAI, K. J. Kim, TANUMA, Shigeo. High-sensitive depth profiling of delta-doped layers by glancing angle irradiation and detection. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  7. OGIWARA, Toshiya, Takaharu NAGATOMI, K. J. Kim, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  8. ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, TAKEGUCHI, Masaki, Takashi Inami. The Reduction Behavior of CaO containing FeO by C. 5th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2010
  9. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 稲見隆. ヘマタイト/グラファイト接触面における反応のその場観察. 日本鉄鋼協会平成22年度秋季講演大会. 2010
  10. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析Ⅱ. 日本分析化学会第59年会. 2010
  11. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 2010 JAIMAコンファレンス 実用的表面分析を目指した活動 − Powel. 2010
  12. OGIWARA, Toshiya, TakaharuNAGATOMI, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder. Microscopy and Microanalysis 2010. 2010
  13. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, SHINOTSUKA, Hiroshi, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. The Change of Al L2,3 at the Welding Interface between Al and Cu. VUVX2010. 2010
  14. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析. 第35回表面分析研究会. 2010
  15. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 大場祐次, 稲見隆. ウスタイト/炭素接合界面でのウスタイト還元に対するカルシウムの効果. 日本顕微鏡学会第66回学術講演会. 2010
  16. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. 第71回分析化学討論会. 2010
  17. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆. TEM内その場観察におけるFeOの被還元性に対するCaの影響. 日本鉄鋼協会第159回春期講演大会. 2010
  18. OGIWARA, Toshiya, Takaharu Nagatomi, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth profiling Analysis Using a High Angle Inclined Holder. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program . 2010
  19. 荻原 俊弥. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 第34回表面分析研究会. 2010
  20. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆. 酸化鉄/炭素界面反応に対するカルシウムの抑制効果. 2009年度NIMSナノ計測センターシンポジウム - 公開セミナー . 2010
2009
  1. ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, Takahiro Harada, Takashi Inami. In-situ TEM Analysis of the Reaction at the Interface between Iron and Carbon under Elevated Temperature. ALC'09. 2009
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆. ウスタイトの還元に対する鉄欠損の影響. 平成21年度ナノ計測センター研究成果発表会. 2009
  3. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 稲見隆. ウスタイトを構成する鉄と炭素の存在比による炭素との反応性の変化. PSA-09. 2009
  4. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 深さ分析プロファイルの分解能、界面幅、界面位置はどうやって決めるのか?. PSA-09. 2009
  5. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. PSA-09  2009年度実用表面分析講演会. 2009
  6. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  7. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analyses of InP/GaInAsP Multilayer Thin Films Using a Sample Cooling Stage. ECASIA’09. 2009
  8. ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, Takahiro Harada, Takashi Inami. IN-SITU ANALYSIS OF THE REDUCTION OF WUSTITE (Fe1-xO) BY CARBON. The Twelfth Frontiers of Electron Microscopy in Materials Scienc. 2009
  9. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Asymmetry parameter and surface excitation parameter for Ni derived by angle-resolved and energy-resolved HX-PES analysis at SPring-8. HAXPES09. 2009
  10. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度イオン入射オージェ深さ方向分析. 第70回分析化学討論会. 2009
  11. 下田 正彦, 西脇永敏, 小西 智也, 塚本史郎, 荻原 俊弥, 山下 良之, 上田 茂典, 吉川 英樹, 小林 啓介. 固定有機パラジウム触媒の硬X線光電子分光. JST育成研究報告会. 2009
  12. 荻原 俊弥. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. トクヤマRC研究所講演会. 2009
2008
  1. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. Li Kαへの化学状態の影響. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  2. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用したオージェ電子分光法による角度分解計測および低角度イオン入射深さ方向分析の検討. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. 実用表面分析シンポジウム PSA-08. 2008
  4. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. クラスター計算によるLi Kαへの化学状態の影響の検討. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  5. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井眞人, 小林 啓介. Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  6. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. 初心者のための実用表面分析講座,分析現場ですぐに役立つ電子分光分. 2008
  7. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Yoyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. The intensity changes of ultra-soft X-ray spectra of several light element oxides. Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting. 2008
  8. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Quantitative Evaluation of Auger Depth Profiles by LOGIT.. Microscopy and Microanalysis 2008. 2008
  9. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 角度分解計測を利用した高精度オージェ深さ方向分析. 第69回分析化学討論会. 2008
  10. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, OKAMOTO, Naoki, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, OKUI, Masato, KOBAYASHI, Keisuke. Asymmetry parameter and depth distribution function derived by angle-resolved and energy-resolved XPS analysis at SPring-8. Maxp-Plank institute and NIMS workshop. 2008
  11. 荻原 俊弥. Si/Ge多層薄膜試料を用いたスパッタリングレート測定に関するRRT実験結果報告. ISO TC201 SC4 電子分光WG 国内委員会. 2008
  12. 佐藤 秀勝, 岩井 秀夫, 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性試験. 第31回表面分析研究会. 2008
2007
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, Kazunoru Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. New-Model Electron Probe Ultra-Soft X-ray Microanalyzer. PSA-07. 2007
  2. ISOZAKI, Yuko, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. Observation of Fine Structure of Nanoparticles . PSA-07. 2007
  3. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Analysis of Auger Depth Profiles Using a Logistic Function Profile Fit.. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2007. 2007
  4. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. フィールドエミッション電子銃波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価. 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  5. 吉川 英樹, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価. NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  6. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置による状態分析の可能性. 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  7. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 日本分析化学会第56年会. 2007
  8. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, OKAMOTO, Naoki, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Multipole effect of asymmetry parameter derived by angle-resolved XPS analysis using high energy SR. ECASIA2007. 2007
  9. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. Theoretical Study about Si LII,III Spectra with The Cluster Calculation. Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting. 2007
  10. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Analysis of Auger Depth Profiles by LOGIT. 17th International Vacuum Congress (IVC-17). 2007
  11. 伊藤 真二, 小黒 信高, 荻原 俊弥, 小林 剛. ダミー陰極を用いたヘリウムグロー放電質量分析法によるセラミックス分析. 第68回分析化学討論会. 2007
  12. 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整, 荻原 俊弥, 中村拓, 永富隆清, 高井義造. SiO2の電子線照射損傷への表面炭素汚染の影響. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  13. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光器によるAl-Li化合物の状態分析. 日本金属学会2007年春期大会. 2007
  14. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置によるLiの特性X線を用いた材料解析技術. FC EXPO 2007. 2007
  15. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整. リチウムの状態分析を可能にする電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. TXテクノロジー・ショーケースインツクバ2007. 2007
2006
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた 各種材料のX線スペクトル形状の観察. 第26回表面科学講演大会. 2006
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置による軽元素および実用材料の分析. 2006年度実用表面分析講演会Practical Surface Analysis 2006. 2006
  3. 荻原 俊弥. ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 2006年度アルバック・ファイユーザーズミーティング. 2006
  4. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた X線スペクトル形状の観察2. 日本分析化学会第55年会. 2006
  5. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光器によるAl-L特性線を用いた状態分析. 日本金属学会2006年秋季大会. 2006
  6. 宮澤 薫一, リンゴル チェリー, 粟根 徹, 荻原 俊弥, 木村 隆. フラーレンナノチューブの高分解能SEM観察. 日本金属学会秋期講演大会. 2006
  7. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki. Angle-resolved and Xray-energy-variable XPS analysis of 1s photoelectrons excited by high energy SR. Workshop of Modeling and Data for Electron Spectroscopies. 2006
  8. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohikoi Tazawa, TANUMA, Shigeo. Development of Ultra-Soft X-ray Spectrometer for Electron Probe Microanalysis . Microscopy & Microanalysis 2006. 2006
  9. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  10. KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. The application of micro are analysis of Al-Cu junction by wavelength-dipersive EPMA equipped with a FE electron gun.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  11. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光による化学状態分析の可能性. 第28回表面分析研究会. 2006
  12. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察. 第28回表面分析研究会. 2006
  13. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いたX線スペクトル形状の観察. 日本分析化学会第67回分析化学討論会. 2006

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