HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.(新しく開発した超軟X線分光分析装置による超軽元素の分析)OGIWARA, Toshiya. European Microbeam Analysis Society 2007. 2007年05月06日-2007年05月10日.NIMS著者荻原 俊弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 11:54:34 +0900更新時刻: 2022-09-05 11:54:34 +0900