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研究内容
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- 荻原 俊弥, 柳内 克昭, 吉川 英樹. 極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi多層薄膜の分析. Journal of Surface Analysis. 25 [1] (2018) 14-20 10.1384/jsa.25.14 Open Access
- OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki. English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205(2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam. Journal of Surface Analysis. [3] (2019) 209-220 10.1384/jsa
- 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2/Si基板の分析. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 24 [3] (2018) 192-205 10.1384/jsa.24.192 Open Access
会議録
- S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kalpha. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. (2010) 012010-1-012010-6 10.1088/1757-899x/7/1/012010
- YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 254-258
- OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder . JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 246-248
口頭発表
- 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹. 三次元オージェ分析による実用材料の評価. 日本分析化学会第８０回分析化学討論会. 2020
- 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹. 三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討. 日本分析化学会第６８年会. 2019
- 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 極低角度入射イオンビームオージェ深さ方向分析による三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討. 第７９回分析化学討論会. 2019
その他の文献
- 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（名古屋）. (2007) 1-22
- 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（東京）. (2007) 1-21
- FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, K. Tsukamoto, T. Tazawa, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy & Microanalysis 2006. (2006) 256-257
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