HOME > 口頭発表 > 書誌詳細超軟X線分光による化学状態分析の可能性(The possibility of chemical state analysis by the ultrasoft x ray spectroscopy. )木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 第28回表面分析研究会. 2006年06月18日-2006年06月20日. 招待講演NIMS著者木村 隆荻原 俊弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:50:42 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:07 +0900