SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi薄膜の分析
(Auger Depth Profiling Analysis of FeNi/CoFeB/FeNi thin film Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam)

日本分析化学会第67年会. 2018年09月12日-2018年09月14日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2018-06-13 08:26:02 +0900更新時刻: 2018-06-13 08:26:02 +0900

    ▲ページトップへ移動