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Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析
(Auger Depth Profiling Analyses of Si/BN Multiple Delta-doped Layer)

荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫.
第35回表面分析研究会. 2010.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-01-08 05:12:26 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:49:16 +0900

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