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原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析
(Physical Analysis on ReRAM Filaments Using Atomic Force Microscope)

依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫.
集積回路研究会. 2011.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-14 11:30:43 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:17:25 +0900

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