HOME > 口頭発表 > 書誌詳細原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析(Physical Analysis on ReRAM Filaments Using Atomic Force Microscope)依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫. 集積回路研究会. 2011.NIMS著者荻原 俊弥岩井 秀夫田沼 繁夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:30:43 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:17:25 +0900