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傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析
(Ultra high depth resolution Auger depth profiling by both electron and ion beams at the glancing incidence using an inclined spe)

荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫.
表面科学 32 [10] 664-669. 2011.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


作成時刻 :2016-05-24 16:22:16 +0900 更新時刻 :2024-03-29 17:55:03 +0900

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