- Address
- 305-0044 茨城県つくば市並木1-1 [アクセス]
研究内容
- Keywords
コンビナトリアル、酸化物半導体、電子デバイス
出版物2004年以降のNIMS所属における研究成果や出版物を表示しています。
論文
- Yoshiyuki Yamashita, Takahiro Nagata, Toyohiro Chikyow, Ryu Hasunuma, Kikuo Yamabe. Spectroscopic Observation of the Interface States at the SiO<sub>2</sub>/4H-SiC(0001) Interface. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 17 [0] (2019) 56-60 10.1380/ejssnt.2019.56
- Takahiro Nagata. (Invited) Development of New High-Dielectric Constant Thin Films By Combinatorial Synthesis. ECS Transactions. 97 [1] (2020) 61-66 10.1149/09701.0061ecst
- Shinjiro YAGYU, Michiko YOSHITAKE, Toyohiro CHIKYOW, Takahiro NAGATA. Automatic Threshold Prediction of Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) by Machine Learning. Vacuum and Surface Science. 63 [6] (2020) 270-276 10.1380/vss.63.270
書籍
- NAGATA, Takahiro. Indium oxide: In2O3. ELSEVIER, 2018
- NAGATA, Takahiro. Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface - A Case Study on Schottky Contact and ReRAM. Springer, 2020
- 長田 貴弘. UV-オゾンクリーニングのPEDOT/PSS薄膜の電気特性への影響. PEDOTの材料物性とデバイス応用. , 2012, 184-186.
会議録
- Takahiro Nagata. (Invited) Development of New High-Dielectric Constant Thin Films By Combinatorial Synthesis. ECS Transactions. 2020, 61-66
- Takashi Onaya, Toshihide Nabatame, Mari Inoue, Yong Chan Jung, Heber Hernandez-Arriaga, Jaidah Mohan, Harrison Sejoon Kim, Naomi Sawamoto, Takahiro Nagata, Jiyoung Kim, Atsushi Ogura. Improvement of Ferroelectricity and Fatigue Property of Thicker HfxZr1−XO2/ZrO2 Bi-layer. ECS Transactions. 2020, 63-70
- Riku Kobayashi, Toshihide Nabatame, Kazunori Kurishima, Takashi Onaya, Akihiko Ohi, Naoki Ikeda, Takahiro Nagata, Kazuhito Tsukagoshi, Atsushi Ogura. Characteristics of Oxide TFT Using Carbon-Doped Ιn2O3 Thin Film Fabricated by Low-Temperature ALD Using Ethylcyclopentadienyl Indium (Ιn-EtCp) and H2O & O3. ECS Transactions. 2019, 3-13
口頭発表
- ONAYA, Takashi, NABATAME, Toshihide, INOUE, Mari, Yong Chan Jung, Heber Hernandez-Arriaga, Jaidah Mohan, Harrison Sejoon Kim, 澤本 直美, NAGATA, Takahiro, Jiyoung Kim, 小椋 厚志. Possibility of Above 20-nm-Thick HfxZr1−xO2/ZrO2 and HfxZr1−xO2/HfO2 Bilayers for High Polarization and Breakdown Voltage. 51th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference. 2020
- 柳生進二郎, 三井 正, 知京豊裕, 長田 貴弘. パルスマグネットを用いた小型Kerr効果測定装置. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020
- YAMASHITA, Akihiro, NAGATA, Takahiro, YAGYU, Shinjiro, 朝日 透, CHIKYOW, Toyohiro. Accelerating 2-Dimensional X-Ray Diffraction Measurement and Analysis with Density-Based Clustering for Thin Films. 33rd International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2020). 2020
その他の文献
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー. 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3 [ISBN] 978-4-9900563-7-7. 1 (2016) 42-51
- 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向. 調査分析室レポート. (2016) 73-89
- 長田 貴弘, 佐久間 芳樹, 関口 隆史, 知京 豊裕. 集束イオンビームＣＶＤ法によるＧａＮ立体構造の作製と評価. BULLETIN OF THE JAPAN ELECTRONIC MATERIALS SOCIETY(日本電子材料技術協会会報). 37 (2006) 37-39
特許
- 特許第6146898号 表面増強ラマン分光分析用（SERS）基板、その製造方法、それを用いたバイオセンサおよびそれを用いたマイクロ流路デバイス (2017)
- 特許第5218969号 sp3-結合性BN高密度相を有するBN薄膜およびその製造方法。 (2013)
- 特許第5044860号 窒化ガリウム等のⅢ族窒化物の成膜方法 (2012)
所属学会
応用物理学会