HOME > 口頭発表 > 書誌詳細VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告(A report on the round-robin test for sample degradation during electron irradiation)田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 表面分析研究会. 2012.NIMS著者木村 隆岩井 秀夫荻原 俊弥田沼 繁夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:20:09 +0900 更新時刻 :2018-06-05 13:06:29 +0900