HOME > 口頭発表 > 書誌詳細VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告(A report on the round-robin test for sample degradation during electron irradiation)田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 表面分析研究会. 2012年02月09日-2012年02月10日.NIMS著者木村 隆岩井 秀夫荻原 俊弥Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:20:09 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:06:29 +0900