HOME > Presentation > DetailVAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告(A report on the round-robin test for sample degradation during electron irradiation)田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 表面分析研究会. 2012.NIMS author(s)KIMURA, TakashiIWAI, HideoOGIWARA, ToshiyaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:20:09 +0900Updated at: 2018-06-05 13:06:29 +0900