HOME > 口頭発表 > 書誌詳細GaAs超格子試料のオージェ深さ方向分析における深さ分解能パラメータに関する検討(Investigation of Depth Resolution Parameters in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling of GaAs/AlAs Superlattice under Different Experimental Conditions)永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-1. 2016.NIMS著者荻原 俊弥田沼 繁夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:25:12 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:28:10 +0900