publication_type publication_year number author title event_name doi reported_at Presentation 2020 1 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹 三次元オージェ分析による実用材料の評価 日本分析化学会第８０回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2019 1 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹 三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討 日本分析化学会第６８年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2019 2 荻原 俊弥, 吉川 英樹 極低角度入射イオンビームオージェ深さ方向分析による三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討 第７９回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2018 1 荻原 俊弥, 吉川 英樹 極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi薄膜の分析 日本分析化学会第６７年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2018 2 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法で得られたHfO2薄膜/Si基板構造のオージェデプスプロファイルの解析 第78回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2018 3 古市 昌弘, 長尾 浩子, 安福 秀幸, 荻原 俊弥, 西尾 満章, 岩井 秀夫, 木本 浩司, 篠塚 寛志, 鈴木 峰晴, 吉川 英樹 1次元，2次元計測データの蓄積状況 MI・計測　合同シンポジウム 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2018 4 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析で得られたHfO2/Si試料のオージェデプスプロファイルの解析 第50回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2017 1 荻原 俊弥 初心者のためのAES分析の勘どころ 2017 JASISコンファレンス 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2017 2 荻原 俊弥 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析における電子およびイオンビーム照射位置の調整方法に関する検討 第77回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2016 1 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 GaAs超格子試料のAESスパッタ深さ分析における深さ分解能パラメータ 第３６回表面科学学術講演会（2016年真空•表面科学合同講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2016 2 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 GaAs超格子試料のオージェ深さ方向分析における深さ分解能パラメータに関する検討 7th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-1 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2016 3 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2薄膜/Si基板構造の分析 日本分析化学会第65年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2016 4 荻原 俊弥 初心者のためのAES分析の勘どころ JASISコンファレンス2016 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2016 5 荻原 俊弥, 吉川 英樹 金属材料の二次電子像コントラストと二次電子スペクトルの関係について 第７６回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2015 1 荻原 俊弥, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法の実用化に関する検討 ２０１５年度実用表面分析講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2015 2 荻原 俊弥, 吉川 英樹 Al-Cu接合試料のSEM像コントラストと二次電子スペクトルの関係について 2015年度実用表面分析講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2015 3 荻原 俊弥, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の深さ方向組成分布の評価 日本分析化学会第64年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2015 4 荻原 俊弥 初心者のためのAES分析の勘どころ 2015 JASISコンファレンス 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2015 5 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫 試料冷却を用いたSiO2およびAl2O3酸化薄膜のオージェスペクトル測定の基礎的検討 第７５回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2014 1 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析.AES-DPデータベース開発に向けて 第３４回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2014 2 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫 試料冷却を用いたオージェ深さ方向分析の基礎的検討 2014年度実用表面分析講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2014 3 荻原 俊弥 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析 日本分析化学会第63年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2014 4 荻原 俊弥 初心者のためのAES分析の勘どころ JASIS2014セミナー 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 1 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の評価 第33回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 2 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田中 彰博, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆 電子ビームがSiO2の薄膜に与える損傷(VAMAS-SCAラウンドロビン試験報告) PSA-13 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 3 福島 整, 荻原 俊弥 6th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 4 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析 第73回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 5 福島 整, 荻原 俊弥 EMAS 2013 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2013 6 田中 彰博, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆 測定時試料損傷の定義と定量評価の方法に関する考察 iSAS-13 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2012 1 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 極低角度入射ビームを用いた高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析 日本分析化学会第61年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2012 2 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを利用した極低角度入射ビームによるデルタドープ多層薄膜のオージェ深さ方向分析 第72回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2012 3 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告 表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 1 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 極低角度入射ビームを用いた極薄膜多層試料のオージェ深さ方向分析 第３１回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 2 石川 信博, 荻原 俊弥, 稲見隆 SiO2含有FeOの溶融温度域での挙動TEM内その場観察 日本金属学会平成23年度秋期講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 3 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 極低角度入射ビームを用いた高感度，高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析 2011年度実用表面分析講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 4 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部　秀人, 稲見　隆 二酸化ケイ素を少量含む酸化鉄の溶融条件下における挙動のTEM内動的解析 2011年度 実用表面分析講演会(PSA-11) 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 5 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部　秀人, 稲見　隆 シリカ含有ウスタイトの溶融温度域での炭素との反応TEM内解析 日本鉄鋼協会平成23年秋期講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 6 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 高傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析 日本分析化学会第60年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 7 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 SiO2/Si 試料の電子線損傷に関するVAMASラウンドロビン試験結果 ECASIA 2011 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2011 8 依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫 原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析 集積回路研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 1 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置を用いた分析 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所セミナー 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 2 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場祐次, 稲見隆 酸化鉄／炭素界面反応におけるカルシウムの影響のその場観察 平成22年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 3 谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, K. J. Kim 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析 第30回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 4 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析 第30回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 5 福島 整, 山内康生, 田中彰博, 渡邉克己, 荻原 俊弥, 鈴木峰晴, 後藤 敬典 5th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 6 谷舗浩紀, 荻原 俊弥, 永富隆清, 高井義造, K. J. Kim, 田沼 繁夫 低角度入射および検出によるデルタドープ層の高感度深さ方向分析 International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10) 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 7 荻原 俊弥, 永富隆清, K. J. Kim, 田沼 繁夫 85度高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析 International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10) 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 8 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 稲見隆 炭素によるライム含有ウスタイト還元の直接観察 5th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 9 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 稲見隆 ヘマタイト／グラファイト接触面における反応のその場観察 日本鉄鋼協会平成22年度秋季講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 10 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析Ⅱ 日本分析化学会第59年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 11 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 2010 JAIMAコンファレンス 実用的表面分析を目指した活動 −　Powel 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 12 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析 Microscopy and Microanalysis 2010 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 13 福島 整, 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 木村 隆, 田沼 繁夫 VUVX2010 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 14 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析 第35回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 15 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 大場祐次, 稲見隆 ウスタイト／炭素接合界面でのウスタイト還元に対するカルシウムの効果 日本顕微鏡学会第66回学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 16 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析 第71回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 17 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆 TEM内その場観察におけるFeOの被還元性に対するCaの影響 日本鉄鋼協会第159回春期講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 18 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 高傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析 The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 19 荻原 俊弥 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 第34回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2010 20 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆 酸化鉄／炭素界面反応に対するカルシウムの抑制効果 2009年度NIMSナノ計測センターシンポジウム - 公開セミナー 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 1 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆 高温下における鉄と炭素の反応のTEM内その場観察 ALC'09 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 2 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆 ウスタイトの還元に対する鉄欠損の影響 平成21年度ナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 3 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 深さ分析プロファイルの分解能、界面幅、界面位置はどうやって決めるのか？ PSA-09 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 4 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 稲見隆 ウスタイトを構成する鉄と炭素の存在比による炭素との反応性の変化 PSA-09 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 5 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 PSA-09 　2009年度実用表面分析講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 6 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 高傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析 第29回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 7 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 試料冷却ステージを用いたInP/GaInAsP多層膜のオージェ深さ方向分析 ECASIA’09 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 8 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆 炭素とウスタイトの反応における鉄元素欠損の効果 The Twelfth Frontiers of Electron Microscopy in Materials Scienc 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 9 吉川 英樹, 田中 博美, 木村 昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木 峰晴, 小林 啓介 SPring-8における角度分解＆エネルギー分解光電子分光による非対称パラメーターと表面励起パラメーターの定量評価 HAXPES09 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 10 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを利用した極低角度イオン入射オージェ深さ方向分析 第70回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 11 下田 正彦, 西脇永敏, 小西　智也, 塚本史郎, 荻原 俊弥, 山下 良之, 上田 茂典, 吉川 英樹, 小林 啓介 固定有機パラジウム触媒の硬X線光電子分光 JST育成研究報告会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 12 荻原俊弥 傾斜ホルダーを用いたオージェ深さ方向分析 International workshop for surface analysis and standardization 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2009 13 荻原 俊弥 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析 トクヤマRC研究所講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 1 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫 Li Kαへの化学状態の影響 第28回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 2 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを利用したオージェ電子分光法による角度分解計測および低角度イオン入射深さ方向分析の検討 第２８回表面科学学術講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 3 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析 実用表面分析シンポジウム PSA-08 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 4 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫 クラスター計算によるLi Kαへの化学状態の影響の検討 Symposium on Practical Surface Analysis 2008 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 5 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井眞人, 小林 啓介 Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価 Symposium on Practical Surface Analysis 2008 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 6 荻原 俊弥 初心者のためのAES分析の勘どころ 初心者のための実用表面分析講座，分析現場ですぐに役立つ電子分光分 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 7 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫 The intensity changes of ultra-soft X-ray spectra of several light element oxides Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 8 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 LOGIT関数によるオージェデプスプロファイルの定量評価 Microscopy and Microanalysis 2008 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 9 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 角度分解計測を利用した高精度オージェ深さ方向分析 第69回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 10 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井 眞人, 小林 啓介 SPring-8における角度分解・エネルギー分解XPSによって求めた非対称パラメータと深さ分布関数 Maxp-Plank institute and NIMS workshop 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 11 荻原 俊弥 Si/Ge多層薄膜試料を用いたスパッタリングレート測定に関するRRT実験結果報告 ISO TC201 SC4 電子分光WG 国内委員会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2008 12 佐藤 秀勝, 岩井 秀夫, 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性試験 第31回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 1 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 2 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫 New-Model Electron Probe Ultra-Soft X-ray Microanalyzer PSA-07 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 3 磯崎 優子, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫 ナノ粒子の微細構造観察 PSA-07 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 4 荻原俊弥 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 5 吉川 英樹, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫 角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価 NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 6 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥 フィールドエミッション電子銃波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 7 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥 電子線励起超軟X線分光装置による状態分析の可能性 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 8 荻原俊弥 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 9 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 LOGIT関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析 日本分析化学会第５６年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 10 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 小林 啓介 高エネルギーＸ線励起の角度分解XPSで評価した非対称パラメータにおける多重極成分 ECASIA2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 11 荻原俊弥 Al Lαを用いた超軟X線分光装置によるAl-Cu金属間化合物の非破壊状態分析 Microscopy and Microanalysis 2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 12 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫 Theoretical Study about Si LII,III Spectra with The Cluster Calculation Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 13 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 LOGITによるオージェデプスプロファイルの解析 17th International Vacuum Congress (IVC-17) 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 14 伊藤 真二, 小黒 信高, 荻原 俊弥, 小林 剛 ダミー陰極を用いたヘリウムグロー放電質量分析法によるセラミックス分析 第68回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 15 荻原俊弥 新しく開発した超軟X線分光分析装置による超軽元素の分析 European Microbeam Analysis Society 2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 16 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整, 荻原 俊弥, 中村拓, 永富隆清, 高井義造 SiO2の電子線照射損傷への表面炭素汚染の影響 第54回応用物理学関係連合講演会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 17 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫 超軟Ｘ線分光器によるAl-Li化合物の状態分析 日本金属学会2007年春期大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 18 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦 電子線励起超軟X線分光分析装置によるLiの特性X線を用いた材料解析技術 FC EXPO 2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2007 19 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整 リチウムの状態分析を可能にする電子線励起超軟X線分光分析装置の開発 TXテクノロジー・ショーケースインツクバ2007 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 1 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整 電子線励起超軟X線分光装置を用いた 各種材料のX線スペクトル形状の観察 第２６回表面科学講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 2 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整 電子線励起超軟X線分光装置による軽元素および実用材料の分析 2006年度実用表面分析講演会Practical Surface Analysis 2006 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 3 荻原 俊弥 ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析 2006年度アルバック・ファイユーザーズミーティング 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 4 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫 電子線励起超軟X線分光装置を用いた X線スペクトル形状の観察２ 日本分析化学会第５５年会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 5 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫 超軟Ｘ線分光器によるAl-L特性線を用いた状態分析 日本金属学会2006年秋季大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 6 宮澤 薫一, リンゴル チェリー, 粟根 徹, 荻原 俊弥, 木村 隆 フラーレンナノチューブの高分解能SEM観察 日本金属学会秋期講演大会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 7 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴 高エネルギー放射光を用いた1s光電子の角度およびエネルギー依存XPS解析 Workshop of Modeling and Data for Electron Spectroscopies 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 8 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫 Microscopy & Microanalysis 2006 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 9 KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo FE-EPMAによるAl-Cu接合境界の微細組織解析 Microscopy and Microanalysis 2006 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 10 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫 超軟X線分光装置によるLi Kαスペクトル分析 Microscopy and Microanalysis 2006 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 11 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫 超軟X線分光による化学状態分析の可能性 第28回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 12 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦 電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察 第28回表面分析研究会 2024-04-26 20:24:16 +0900 Presentation 2006 13 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫 電子線励起超軟X線分光装置を用いたX線スペクトル形状の観察 日本分析化学会第67回分析化学討論会 2024-04-26 20:24:16 +0900