publication_type publication_year number author title journal_title volume_number issue_number start_page end_page doi reported_at Paper 2019 1 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹 翻訳,極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2/Si基板の分析 Journal of Surface Analysis 3 209 220 https://doi.org/10.1384/jsa 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2018 1 荻原 俊弥, 柳内 克昭, 吉川 英樹 極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi多層薄膜の分析 Journal of Surface Analysis 25 1 14 20 https://doi.org/10.1384/jsa.25.14 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2018 2 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2/Si基板の分析 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 24 3 192 205 https://doi.org/10.1384/jsa.24.192 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2013 1 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫 オージェ電子分光法 ぶんせき 11 "" 671 677 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2012 1 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析 Journal of Surface Analysis 18 3 174 181 https://doi.org/10.1384/jsa.18.174 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2011 1 T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Tanuma Journal of Surface Analysis 18 1 26 35 https://doi.org/10.1384/jsa.18.26 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2011 2 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析 表面科学 32 10 664 669 https://doi.org/10.1380/jsssj.32.664 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2010 1 ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, TAKEGUCHI, Masaki, Yuji Oba, Takashi Inami カルシウムドープしたウスタイトの炭素による還元 MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 352 353 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2010 2 M. Shimoda, T. Konishi, K. Tateishi, T. Toujyou, S. Tsukamoto, N. Nishiwaki, M. Arisawa, N. Hoshiya, S. Shuto, N. Isomura, H. Yokota, Y. Furukawa, K. Iizuka, T. Ogiwara, Y. Isozaki, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, S. Ueda, K. Kobayashi Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of palladium catalysts immobilized on a GaAs(001) surface Journal of Applied Physics 108 2 024309 https://doi.org/10.1063/1.3456507 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2009 1 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫 超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響 表面科学 30 7 391 396 https://doi.org/10.1380/jsssj.30.391 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2008 1 荻原 俊弥, 木村 隆 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析 表面技術誌 59 12 838 841 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2008 2 FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo Theoretical Study about Si L2,3 Spectra with The Cluster Calculation MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 1446 1447 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2008 3 OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo Al Lαを用いた超軟X線分光装置によるAl-Cu金属間化合物の非破壊状態分析 MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 842 843 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2008 4 OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo 新しく開発した超軟X線分光分析装置による超軽元素の分析 MICROCHIMICA ACTA 451 454 2024-03-29 01:49:30 +0900 Paper 2007 1 伊藤 真二, 小黒 信高, 荻原 俊弥, 小林 剛 ダミー陰極を用いたヘリウムグロー放電質量分析法によるチタン酸ストロンチウムの分析 分析化学 56 10 871 877 https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.56.871 2024-03-29 01:49:30 +0900