SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Profile > OGIWARA, Toshiya

OGIWARA, Toshiya

OGIWARA, Toshiya (荻原 俊弥) 0000-0002-7376-6571

Address
305-0047 1-2-1 Sengen Tsukuba Ibaraki JAPAN [Access]

[Research papers] | [Books] | [Proceedings] | [Presentations] | [Misc] | [Published patent applications]

Research papers TSV

2019
  1. OGIWARA, Toshiya, NAGATA, Takahiro, YOSHIKAWA, Hideki. English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205(2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam. Journal of Surface Analysis. [3] (2019) 209-220 10.1384/jsa
2018
  1. 荻原 俊弥, 柳内 克昭, 吉川 英樹. 極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi多層薄膜の分析. Journal of Surface Analysis. 25 [1] (2018) 14-20 10.1384/jsa.25.14 Open Access
  2. 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2/Si基板の分析. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 24 [3] (2018) 192-205 10.1384/jsa.24.192 Open Access
2013
  1. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. オージェ電子分光法. ぶんせき. 11 (2013) 671-677
2012
  1. 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析. Journal of Surface Analysis. 18 [3] (2012) 174-181 10.1384/jsa.18.174 Open Access
2011
  1. T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Tanuma. Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Damage of SiO2 Film Surface at Different Electron Primary Energies. Journal of Surface Analysis. 18 [1] (2011) 26-35 10.1384/jsa.18.26
  2. 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫. 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 表面科学. 32 [10] (2011) 664-669 10.1380/jsssj.32.664 Open Access
2010
  1. ISHIKAWA, Nobuhiro, OGIWARA, Toshiya, TAKEGUCHI, Masaki, Yuji Oba, Takashi Inami. The Effect of Ca on the Reduction of CaO Doped FeO by Carbon. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2010) 352-353
  2. M. Shimoda, T. Konishi, K. Tateishi, T. Toujyou, S. Tsukamoto, N. Nishiwaki, M. Arisawa, N. Hoshiya, S. Shuto, N. Isomura, H. Yokota, Y. Furukawa, K. Iizuka, T. Ogiwara, Y. Isozaki, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, S. Ueda, K. Kobayashi. Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of palladium catalysts immobilized on a GaAs(001) surface. Journal of Applied Physics. 108 [2] (2010) 024309 10.1063/1.3456507
2009
  1. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響. 表面科学. 30 [7] (2009) 391-396 10.1380/jsssj.30.391 Open Access
2008
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析. 表面技術誌. 59 [12] (2008) 838-841
  2. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. The Non-destructive Chemical State Analysis of Al-Cu Inter-metallic Compound by Ultra-soft X-ray Spectrometer with Al Lα. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 842-843
  3. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. Theoretical Study about Si L2,3 Spectra with The Cluster Calculation. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 1446-1447
  4. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.. MICROCHIMICA ACTA. (2008) 451-454
2007
  1. 伊藤 真二, 小黒 信高, 荻原 俊弥, 小林 剛. ダミー陰極を用いたヘリウムグロー放電質量分析法によるチタン酸ストロンチウムの分析. 分析化学. 56 [10] (2007) 871-877 10.2116/bunsekikagaku.56.871

Books TSV

Proceedings TSV

2010
  1. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kalpha. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. (2010) 012010-1-012010-6 10.1088/1757-899x/7/1/012010
2009
  1. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder . JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 246-248
  2. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 254-258
2008
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. NEW-MODEL ULTRA-SOFT X-RAY SPECTROMETER FOR ELECTRON PROBE MICROANALYSIS. MICROCHIMICA ACTA. (2008) 399-404
2007
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（東京）. (2007) 1-21
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（名古屋）. (2007) 1-22
2006
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, K. Tsukamoto, T. Tazawa, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy & Microanalysis 2006. (2006) 256-257

Presentations TSV

2020
  1. 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹. 三次元オージェ分析による実用材料の評価. 日本分析化学会第８０回分析化学討論会. 2020
2019
  1. 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 永田 賢二, 吉川 英樹. 三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討. 日本分析化学会第６８年会. 2019
  2. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 極低角度入射イオンビームオージェ深さ方向分析による三次元オージェ深さ方向分析の基礎的検討. 第７９回分析化学討論会. 2019
2018
  1. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi薄膜の分析. 日本分析化学会第６７年会. 2018
  2. 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法で得られたHfO2薄膜/Si基板構造のオージェデプスプロファイルの解析. 第78回分析化学討論会. 2018
  3. 古市 昌弘, 長尾 浩子, 安福 秀幸, 荻原 俊弥, 西尾 満章, 岩井 秀夫, 木本 浩司, 篠塚 寛志, 鈴木 峰晴, 吉川 英樹. 1次元，2次元計測データの蓄積状況. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  4. 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析で得られたHfO2/Si試料のオージェデプスプロファイルの解析. 第50回表面分析研究会. 2018
2017
  1. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. 2017 JASISコンファレンス. 2017 Invited
  2. 荻原 俊弥. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析における電子およびイオンビーム照射位置の調整方法に関する検討. 第77回分析化学討論会. 2017
2016
  1. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. GaAs超格子試料のAESスパッタ深さ分析における深さ分解能パラメータ. 第３６回表面科学学術講演会（2016年真空•表面科学合同講演会. 2016
  2. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. GaAs超格子試料のオージェ深さ方向分析における深さ分解能パラメータに関する検討. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-1. 2016
  3. 荻原 俊弥, 長田 貴弘, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2薄膜/Si基板構造の分析. 日本分析化学会第65年会. 2016
  4. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. JASISコンファレンス2016. 2016 Invited
  5. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 金属材料の二次電子像コントラストと二次電子スペクトルの関係について. 第７６回分析化学討論会. 2016
2015
  1. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法の実用化に関する検討. ２０１５年度実用表面分析講演会. 2015
  2. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. Al-Cu接合試料のSEM像コントラストと二次電子スペクトルの関係について. 2015年度実用表面分析講演会. 2015
  3. 荻原 俊弥, 吉川 英樹. 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の深さ方向組成分布の評価. 日本分析化学会第64年会. 2015
  4. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. 2015 JASISコンファレンス. 2015 Invited
  5. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたSiO2およびAl2O3酸化薄膜のオージェスペクトル測定の基礎的検討. 第７５回分析化学討論会. 2015
2014
  1. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析.AES-DPデータベース開発に向けて. 第３４回表面科学学術講演会. 2014 Invited
  2. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたオージェ深さ方向分析の基礎的検討. 2014年度実用表面分析講演会. 2014
  3. 荻原 俊弥. 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析. 日本分析化学会第63年会. 2014
  4. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. JASIS2014セミナー. 2014 Invited
2013
  1. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の評価. 第33回表面科学学術講演会. 2013
  2. 福島 整, 荻原 俊弥. The Comparison of Cr LMM between Measured by SAM and by XPS. 6th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2013
  3. 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田中 彰博, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆. 電子ビームがSiO2の薄膜に与える損傷(VAMAS-SCAラウンドロビン試験報告). PSA-13. 2013
  4. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析. 第73回分析化学討論会. 2013
  5. 福島 整, 荻原 俊弥. THE CHANGE OF Cr LMM BETWEEN METALLIC Cr AND Cr2O3OBSEVED BY SCANNING AUGER MICROSCOPE. EMAS 2013. 2013
  6. 田中 彰博, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆. 測定時試料損傷の定義と定量評価の方法に関する考察. iSAS-13. 2013
2012
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 日本分析化学会第61年会. 2012
  2. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度入射ビームによるデルタドープ多層薄膜のオージェ深さ方向分析. 第72回分析化学討論会. 2012
  3. 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告. 表面分析研究会. 2012
2011
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた極薄膜多層試料のオージェ深さ方向分析. 第３１回表面科学学術講演会. 2011
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 稲見隆. SiO2含有FeOの溶融温度域での挙動TEM内その場観察. 日本金属学会平成23年度秋期講演大会. 2011
  3. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度，高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 2011年度実用表面分析講演会. 2011
  4. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部　秀人, 稲見　隆. 二酸化ケイ素を少量含む酸化鉄の溶融条件下における挙動のTEM内動的解析. 2011年度 実用表面分析講演会(PSA-11). 2011
  5. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 渡部　秀人, 稲見　隆. シリカ含有ウスタイトの溶融温度域での炭素との反応TEM内解析. 日本鉄鋼協会平成23年秋期講演大会. 2011
  6. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 日本分析化学会第60年会. 2011
  7. 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. SiO2/Si 試料の電子線損傷に関するVAMASラウンドロビン試験結果. ECASIA 2011. 2011
  8. 依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫. 原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析. 集積回路研究会. 2011
2010
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置を用いた分析. 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所セミナー. 2010 Invited
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場祐次, 稲見隆. 酸化鉄／炭素界面反応におけるカルシウムの影響のその場観察. 平成22年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2010
  3. 谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, K. J. Kim. 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  4. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010 Invited
  5. 福島 整, 山内康生, 田中彰博, 渡邉克己, 荻原 俊弥, 鈴木峰晴, 後藤 敬典. The Preliminary Experimental Evaluation of The Signal Dispersion ; AES. 5th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2010
  6. 荻原 俊弥, 永富隆清, K. J. Kim, 田沼 繁夫. 85度高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010 Invited
  7. 谷舗浩紀, 荻原 俊弥, 永富隆清, 高井義造, K. J. Kim, 田沼 繁夫. 低角度入射および検出によるデルタドープ層の高感度深さ方向分析. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  8. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 稲見隆. 炭素によるライム含有ウスタイト還元の直接観察. 5th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2010
  9. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 稲見隆. ヘマタイト／グラファイト接触面における反応のその場観察. 日本鉄鋼協会平成22年度秋季講演大会. 2010
  10. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析Ⅱ. 日本分析化学会第59年会. 2010
  11. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 2010 JAIMAコンファレンス 実用的表面分析を目指した活動 −　Powel. 2010 Invited
  12. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. Microscopy and Microanalysis 2010. 2010
  13. 福島 整, 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 木村 隆, 田沼 繁夫. The Change of Al L2,3 at the Welding Interface between Al and Cu. VUVX2010. 2010
  14. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析. 第35回表面分析研究会. 2010
  15. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 大場祐次, 稲見隆. ウスタイト／炭素接合界面でのウスタイト還元に対するカルシウムの効果. 日本顕微鏡学会第66回学術講演会. 2010
  16. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. 第71回分析化学討論会. 2010
  17. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆. TEM内その場観察におけるFeOの被還元性に対するCaの影響. 日本鉄鋼協会第159回春期講演大会. 2010
  18. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program . 2010
  19. 荻原 俊弥. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 第34回表面分析研究会. 2010 Invited
  20. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 大場裕次郎, 稲見隆. 酸化鉄／炭素界面反応に対するカルシウムの抑制効果. 2009年度NIMSナノ計測センターシンポジウム - 公開セミナー . 2010
2009
  1. 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆. 高温下における鉄と炭素の反応のTEM内その場観察. ALC'09. 2009
  2. 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆. ウスタイトの還元に対する鉄欠損の影響. 平成21年度ナノ計測センター研究成果発表会. 2009
  3. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 深さ分析プロファイルの分解能、界面幅、界面位置はどうやって決めるのか？. PSA-09. 2009
  4. 石川 信博, 荻原 俊弥, 竹口 雅樹, 原田嵩弘, 稲見隆. ウスタイトを構成する鉄と炭素の存在比による炭素との反応性の変化. PSA-09. 2009
  5. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. PSA-09 　2009年度実用表面分析講演会. 2009
  6. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  7. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 試料冷却ステージを用いたInP/GaInAsP多層膜のオージェ深さ方向分析. ECASIA’09. 2009
  8. 石川 信博, 荻原 俊弥, 原田嵩弘, 稲見隆. 炭素とウスタイトの反応における鉄元素欠損の効果. The Twelfth Frontiers of Electron Microscopy in Materials Scienc. 2009
  9. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村 昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木 峰晴, 小林 啓介. SPring-8における角度分解＆エネルギー分解光電子分光による非対称パラメーターと表面励起パラメーターの定量評価. HAXPES09. 2009
  10. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度イオン入射オージェ深さ方向分析. 第70回分析化学討論会. 2009
  11. 下田 正彦, 西脇永敏, 小西　智也, 塚本史郎, 荻原 俊弥, 山下 良之, 上田 茂典, 吉川 英樹, 小林 啓介. 固定有機パラジウム触媒の硬X線光電子分光. JST育成研究報告会. 2009 Invited
  12. OGIWARA, Toshiya. Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder . International workshop for surface analysis and standardization. 2009 Invited
  13. 荻原 俊弥. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. トクヤマRC研究所講演会. 2009 Invited
2008
  1. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. Li Kαへの化学状態の影響. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  2. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用したオージェ電子分光法による角度分解計測および低角度イオン入射深さ方向分析の検討. 第２８回表面科学学術講演会. 2008
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. 実用表面分析シンポジウム PSA-08. 2008
  4. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. クラスター計算によるLi Kαへの化学状態の影響の検討. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  5. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井眞人, 小林 啓介. Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  6. 荻原 俊弥. 初心者のためのAES分析の勘どころ. 初心者のための実用表面分析講座，分析現場ですぐに役立つ電子分光分. 2008 Invited
  7. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. The intensity changes of ultra-soft X-ray spectra of several light element oxides. Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting. 2008
  8. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数によるオージェデプスプロファイルの定量評価. Microscopy and Microanalysis 2008. 2008
  9. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 角度分解計測を利用した高精度オージェ深さ方向分析. 第69回分析化学討論会. 2008
  10. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井 眞人, 小林 啓介. SPring-8における角度分解・エネルギー分解XPSによって求めた非対称パラメータと深さ分布関数. Maxp-Plank institute and NIMS workshop. 2008
  11. 荻原 俊弥. Si/Ge多層薄膜試料を用いたスパッタリングレート測定に関するRRT実験結果報告. ISO TC201 SC4 電子分光WG 国内委員会. 2008
  12. 佐藤 秀勝, 岩井 秀夫, 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性試験. 第31回表面分析研究会. 2008
2007
  1. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2007. 2007
  2. 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. New-Model Electron Probe Ultra-Soft X-ray Microanalyzer. PSA-07. 2007 Invited
  3. 磯崎 優子, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. ナノ粒子の微細構造観察. PSA-07. 2007
  4. 荻原俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング. 2007 Invited
  5. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. フィールドエミッション電子銃波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価. 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  6. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置による状態分析の可能性. 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  7. 吉川 英樹, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価. NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  8. 荻原俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング. 2007 Invited
  9. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 日本分析化学会第５６年会. 2007
  10. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 小林 啓介. 高エネルギーＸ線励起の角度分解XPSで評価した非対称パラメータにおける多重極成分. ECASIA2007. 2007
  11. OGIWARA, Toshiya. The Non-destructive Chemical State Analysis of Al-Cu Inter-metallic Compound by Ultra-soft X-ray Spectrometer with Al Lα. Microscopy and Microanalysis 2007. 2007
  12. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. Theoretical Study about Si LII,III Spectra with The Cluster Calculation. Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting. 2007
  13. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGITによるオージェデプスプロファイルの解析. 17th International Vacuum Congress (IVC-17). 2007
  14. 伊藤 真二, 小黒 信高, 荻原 俊弥, 小林 剛. ダミー陰極を用いたヘリウムグロー放電質量分析法によるセラミックス分析. 第68回分析化学討論会. 2007
  15. OGIWARA, Toshiya. Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.. European Microbeam Analysis Society 2007. 2007
  16. 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整, 荻原 俊弥, 中村拓, 永富隆清, 高井義造. SiO2の電子線照射損傷への表面炭素汚染の影響. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  17. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光器によるAl-Li化合物の状態分析. 日本金属学会2007年春期大会. 2007
  18. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置によるLiの特性X線を用いた材料解析技術. FC EXPO 2007. 2007
  19. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整. リチウムの状態分析を可能にする電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. TXテクノロジー・ショーケースインツクバ2007. 2007 Invited
2006
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた 各種材料のX線スペクトル形状の観察. 第２６回表面科学講演大会. 2006
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置による軽元素および実用材料の分析. 2006年度実用表面分析講演会Practical Surface Analysis 2006. 2006
  3. 荻原 俊弥. ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 2006年度アルバック・ファイユーザーズミーティング. 2006
  4. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた X線スペクトル形状の観察２. 日本分析化学会第５５年会. 2006
  5. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光器によるAl-L特性線を用いた状態分析. 日本金属学会2006年秋季大会. 2006
  6. 宮澤 薫一, リンゴル チェリー, 粟根 徹, 荻原 俊弥, 木村 隆. フラーレンナノチューブの高分解能SEM観察. 日本金属学会秋期講演大会. 2006
  7. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴. 高エネルギー放射光を用いた1s光電子の角度およびエネルギー依存XPS解析. Workshop of Modeling and Data for Electron Spectroscopies. 2006
  8. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. Development of Ultra-Soft X-ray Spectrometer for Electron Probe Microanalysis . Microscopy & Microanalysis 2006. 2006
  9. KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. The application of micro are analysis of Al-Cu junction by wavelength-dipersive EPMA equipped with a FE electron gun.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  10. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光装置によるLi Kαスペクトル分析. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  11. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光による化学状態分析の可能性. 第28回表面分析研究会. 2006 Invited
  12. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察. 第28回表面分析研究会. 2006 Invited
  13. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いたX線スペクトル形状の観察. 日本分析化学会第67回分析化学討論会. 2006

Misc TSV

2007
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（東京）. (2007) 1-21
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（名古屋）. (2007) 1-22
2006
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, K. Tsukamoto, T. Tazawa, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy & Microanalysis 2006. (2006) 256-257

Published patent applications TSV

    ▲ Go to the top of this page