Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis. | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.
(新しく開発した超軟X線分光分析装置による超軽元素の分析)

OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo.

MICROCHIMICA ACTA 451-454. 2008.

NIMS著者

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作成時刻: 2022-10-21 22:24:58 +0900更新時刻: 2022-10-21 22:24:58 +0900

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