HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察(Development of Ultra-Soft X-ray Spectrometer for Electron Probe Microanalysis)福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 第28回表面分析研究会. 2006年06月19日-2006年06月20日. 招待講演NIMS著者荻原 俊弥木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:30:07 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:08 +0900