SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > プロフィール > クスタンセ オスカル

クスタンセ オスカル

クスタンセ オスカル (CUSTANCE, Oscar) 0000-0001-7931-603X

Address
305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1 [アクセス]

[論文] | [書籍] | [会議録] | [口頭発表] | [その他の文献] | [公開特許出願]

論文 TSV

2023
  1. Shigeki Kawai, Orlando J. Silveira, Lauri Kurki, Zhangyu Yuan, Tomohiko Nishiuchi, Takuya Kodama, Kewei Sun, Oscar Custance, Jose L. Lado, Takashi Kubo, Adam S. Foster. Local probe-induced structural isomerization in a one-dimensional molecular array. Nature Communications. 14 [1] (2023) 7741 10.1038/s41467-023-43659-4 Open Access
  2. Kewei Sun, Kazuma Sugawara, Andrey Lyalin, Yusuke Ishigaki, Kohei Uosaki, Oscar Custance, Tetsuya Taketsugu, Takanori Suzuki, Shigeki Kawai. On-Surface Synthesis of Multiple Cu Atom-Bridged Organometallic Oligomers. ACS Nano. 17 [23] (2023) 24355-24362 10.1021/acsnano.3c10524
2022
  1. M. Abe, H. Yamashita, S. Jinno, O. Custance, H. Toki. Reduction of noise induced by power supply lines using phase-locked loop. Review of Scientific Instruments. 93 [11] (2022) 113704 10.1063/5.0124433
  2. Shigeki Kawai, Kazuma Sugawara, Yujing Ma, Kewei Sun, Oscar Custance, Yusuke Ishigaki, Takanori Suzuki. Multiple molecular interactions between alkyl groups and dissociated bromine atoms on Ag(111). Physical Chemistry Chemical Physics. 24 [36] (2022) 22191-22197 10.1039/d2cp03198a
  3. Keisuke Sagisaka, Oscar Custance, Nobuyuki Ishida, Tomonori Nakamura, Yasuo Koide. Identification of a nitrogen vacancy in GaN by scanning probe microscopy. Physical Review B. 106 [11] (2022) 115309 10.1103/physrevb.106.115309
2020
  1. Tomoko K. Shimizu, Carlos Romero-Muñiz, Oleksandr Stetsovych, Jaime Carracedo-Cosme, Michael Ellner, Pablo Pou, Koji Oohora, Takashi Hayashi, Ruben Perez, Oscar Custance. Effect of Molecule–Substrate Interactions on the Adsorption of meso-Dibenzoporphycene Tautomers Studied by Scanning Probe Microscopy and First-Principles Calculations. The Journal of Physical Chemistry C. 124 [49] (2020) 26759-26768 10.1021/acs.jpcc.0c07726
  2. Zhuo Diao, Daiki Katsube, Hayato Yamashita, Yoshiaki Sugimoto, Oscar Custance, Masayuki Abe. Automated extraction of the short-range part of the interaction in non-contact atomic force microscopy. Applied Physics Letters. 117 [3] (2020) 033104 10.1063/5.0007754
2018
  1. Milica Todorović, Oleksandr Stetsovych, César Moreno, Tomoko K. Shimizu, Oscar Custance, Rubén Pérez. Pentacene/TiO2 Anatase Hybrid Interface Study by Scanning Probe Microscopy and First Principles Calculations. ACS Applied Materials & Interfaces. 10 [40] (2018) 34718-34726 10.1021/acsami.8b09203
2016
  1. 清水 智子, CUSTANCE Oscar . 分子の内部構造を見る原子間力顕微鏡技術. 表面科学. 37 [7] (2016) 320-325 10.1380/jsssj.37.320 Open Access
2015
  1. Oleksandr Stetsovych, Milica Todorović, Tomoko K. Shimizu, César Moreno, James William Ryan, Carmen Pérez León, Keisuke Sagisaka, Emilio Palomares, Vladimír Matolín, Daisuke Fujita, Ruben Perez, Oscar Custance. Atomic species identification at the (101) anatase surface by simultaneous scanning tunnelling and atomic force microscopy. Nature Communications. 6 [1] (2015) 7265 10.1038/ncomms8265 Open Access
  2. César Moreno, Oleksandr Stetsovych, Tomoko K. Shimizu, Oscar Custance. Imaging Three-Dimensional Surface Objects with Submolecular Resolution by Atomic Force Microscopy. Nano Letters. 15 [4] (2015) 2257-2262 10.1021/nl504182w
2012
  1. S Torbrügge, O Custance, S Morita, M Reichling. Manipulation of individual water molecules on CeO2(111). Journal of Physics: Condensed Matter. 24 [8] (2012) 084010 10.1088/0953-8984/24/8/084010
2009
  1. Sascha Sadewasser, Pavel Jelinek, Chung-Kai Fang, Oscar Custance, Yusaku Yamada, Yoshiaki Sugimoto, Masayuki Abe, Seizo Morita. New Insights on Atomic-Resolution Frequency-Modulation Kelvin-Probe Force-Microscopy Imaging of Semiconductors. Physical Review Letters. 103 [26] (2009) 266103 10.1103/physrevlett.103.266103
  2. Oscar Custance, Ruben Perez, Seizo Morita. Atomic force microscopy as a tool for atom manipulation. Nature Nanotechnology. 4 [12] (2009) 803-810 10.1038/nnano.2009.347
2008
  1. Y. Sugimoto, P. Pou, O. Custance, P. Jelinek, M. Abe, R. Perez, S. Morita. Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy. Science. 322 [5900] (2008) 413-417 10.1126/science.1160601

書籍 TSV

2009
  1. Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto. Force Spectroscopy on Semiconductor Surfaces. Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2. Springer Berlin Heidelberg, 2009, 31-68. 10.1007/978-3-642-01495-6_3

会議録 TSV

口頭発表 TSV

2024
  1. CUSTANCE, Oscar, Kyungmin Kim, Daiki Katsube, Masayuki Abe, KAWAI, Shigeki. Characterization of molecular water adsorbed on the cerium dioxide (111) surface by means of force spectroscopy. The 71st JSAP Spring Meeting 2024. 2024
  2. KIM Kyungmin, CUSTANCE, Oscar, ABE Masayuki, KAWAI, Shigeki. Atomic-Scale Characterization of the CeO2(100) Surface with Atomic Force Microscopy and Force Spectroscopy. The 14th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-14) . 2024
  3. CUSTANCE, Oscar, KIM Kyungmin, KATSUBE Daiki, ABE Masayuki, KAWAI, Shigeki. Characterization of molecular H2O and CO2 on the CeO2(111) surface with high-resolution atomic force microscopy. The 14th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-14) . 2024
2023
  1. KAWAI, Shigeki, Orlando J. Silveira, Lauri Kurki, YUAN, Zhangyu, Tomohiko Nishiuchi, Takuya Kodama, SUN, Kewei, CUSTANCE, Oscar, Jose L. Lado, Takashi Kubo, Adam S. Foster. Local Probe Isomerization in a One-Dimensional Molecular Array. The 31st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM31). 2023
  2. CUSTANCE, Oscar, Kyungmin Kim, Daiki Katsube, Masayuki Abe, KAWAI, Shigeki. CHARACTERIZATION OF MOLECULAR H2O, CO2 AND CO ON THE CERIA (111) SURFACE WITH HIGH-RESOLUTION ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND FORCE SPECTROSCOPY. 24th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (NCAFM2023). 2023
  3. KAWAI, Shigeki, Orlando J. Silveira, Lauri Kurki, YUAN, Zhangyu, Tomohiko Nishiuchi, Takuya Kodama, SUN, Kewei, CUSTANCE, Oscar, Jose L. Lado, Takashi Kubo, Adam S. Foster. Local Probe Isomerization in a One-Dimensional Molecular Array. The 24th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy. 2023
  4. CUSTANCE, Oscar, Kyungmin Kim, Daiki Katsube, Masayui Abe, KAWAI, Shigeki. Characterization of molecular H2O, CO2 and CO on the CeO2(111) surface with high-resolution atomic force microscopy. IUVSTA-ZCAM METAL-OXIDE ULTRATHIN FILMS AND NANOSTRUCTURES: EXPERIMENT MEETS THEORY. 2023 招待講演
  5. 川井 茂樹, エン チョウウ, Lauri Kurki, Tomohiko Nishiuchi, Takuya Kodama, サン ケイウェイ, クスタンセ オスカル, Takashi Kubo, Adam. S. Foster. 探針による三次元分子の構造異性化. 第70回応用物理学会春季学術講演会. 2023
2018
  1. 清水 智子, クスタンセ オスカル. AFM イメージングと力分光による単分子吸着構造解析. 2018年　日本表面真空学会学術講演会. 2018
  2. 清水 智子, クスタンセ オスカル. アナターゼ型酸化チタン表面の欠陥および吸着分子 . 2018年　日本表面真空学会学術講演会. 2018 招待講演
2017
  1. 清水 智子, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. メソジベンゾポルフィセンのSTM/AFM同時測定. Forefront of molecular dynamics at surfaces and interfaces. 2017
  2. 清水 智子, クスタンセ オスカル. アナターゼ酸化チタンに吸着したペンタセンの 高解像度原子間力顕微鏡解析. 日本物理学会2017年秋季大会. 2017
  3. 清水 智子, M. Todorovic, ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, R. Perez, クスタンセ オスカル. SiカンチレバーAFMによるサブモレキュラーイメージングを用いたアナターゼTiO2(101)上の分子吸着. 13th European Conference on Surface Crystallography and Dynamics. 2017 招待講演
  4. 清水 智子, クスタンセ オスカル. 実用材料評価に向けたマルチスケール対応 AFM/STM同時測定装置の開発. 共用・計測 合同シンポジウム2017. 2017
2016
  1. ステソビック オレクサンダー, TODOROVIC Milica, 清水 智子, Perez Ruben, クスタンセ オスカル. Atomic Species Identification at the (101) Anatase Surface by Simultaneous Scanning Tunnelling and Atomic Force Microscopy. Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces (PacS. 2016
  2. 清水 智子, クスタンセ オスカル. KolibriセンサーとSiカンチレバーによる単分子のAFMイメージングと分光. IFIMAC (Condensed Matter Physics) Seminar Series. 2016 招待講演
  3. 清水 智子, クスタンセ オスカル. Kolibriセンサーとカンチレバーを用いた単分子AFMイメージングおよび分光. ACSIN2016. 2016
  4. 清水 智子, クスタンセ オスカル. ポルフィセン単分子の非接触原子間力顕微鏡イメージングおよび力分光. 日本物理学会2016年秋季大会. 2016
  5. 清水 智子, ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, クスタンセ オスカル. 非接触原子間力顕微鏡による３次元表面系イメージング. 20th International Vacuum Congress (IVC-20). 2016
  6. 清水 智子, Janina Ladenthin, クスタンセ オスカル. 分子システムのAFM/STM同時測定. 共用・計測 合同シンポジウム2016. 2016
2015
  1. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. AFM/STM同時測定によるアナターゼTiO2(101)表面上での分子内イメージングと原子種特定. UK-Japan Symposium on Atomicand Molecualr Manipulation. 2015 招待講演
  2. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. 原子間力顕微鏡による3次元表面分子系の高分解イメージング. 第35回表面科学学術講演会. 2015
  3. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. AFM/STM同時測定によるアナターゼ酸化チタン上でのサブ分子イメージングと原子種特定. Swiss-Japan Workshop 2015 "Nanoscale Electron-Photon Intera. 2015 招待講演
  4. 清水 智子, ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, クスタンセ オスカル. AFMによる3次元表面物質のサブ分子解像度イメージング. MANA-DIPC Workshop “Nanostructures and Complex Functional Mater. 2015
  5. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. AFM・STM同時測定によるアナターゼTiO2(101)表面における分子内イメージングと原子種特定. NIMS Conference 2015. 2015 招待講演
  6. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. 原子間力顕微鏡による3次元的表面物質の分子内解像度イメージング. 共用・計測　合同シンポジウム2015. 2015
2014
  1. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. 原子間力顕微鏡による3次元的表面物質の分子内解像度イメージング. Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces. 2014
  2. クスタンセ オスカル. Atom manipulation, single-atom chemical identification and sub-molecular resolution with AFM using silicon cantilevers as force sensors. 2nd Functionality of Organised Nanostructures 2014. 2014 招待講演
  3. ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, 清水 智子, クスタンセ オスカル. A General Method for Intra-molecular Resolution with Atomic Force Microscopy using commercial Si cantilevers. The 7th International Symposiumon Surface Science. 2014
  4. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, Todorovic, 清水 智子, Perez, クスタンセ オスカル. Adsorption Geometry of Pentacene on TiO2 anatase surface resolved by intra-molecular Atomic Force Microscopy imaging. Fuerzas y Tunel 2014. 2014
  5. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, 清水 智子, クスタンセ オスカル. 3D Force and Conductance Spectroscopy Mapping on Cu2N Surface by Simultaneous AFM-STM using Kolibri Sensor. non-contact atomic force microscopy (NC-AFM 2014). 2014
  6. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, 清水 智子, クスタンセ オスカル. Three-dimensional Imaging with Sub-molecular Resolution by Cantilever-based Atomic Force Microscopy. non-contact atomic force microscopy (NC-AFM 2014). 2014
  7. クスタンセ オスカル. Atom manipulation, single-atom chemical identification and sub-molecular resolution by silicon-cantilever based AFM . XXI International Summer School Nicolas Cabrera. 2014 招待講演
  8. クスタンセ オスカル. Sub-molecular resolution with simultaneous bimodal AFM and STM: characterization of pentacene on the anatase (101) surface. 5th Multifrequency AFM Conference. 2014 招待講演
  9. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, Todorovic, 清水 智子, Ruben Perez, クスタンセ オスカル. Atomic-scale Characterization of Pentacene and C60 on TiO2 (101) Anatase by Simultaneous Bimodal AFM/STM and Kelvin Probe Force Microscopy. MRS Spring Meeting 2014. 2014
  10. 清水 智子, モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. アナターゼ型酸化チタン表面の原子間力顕微鏡/走査トンネル顕微鏡の同時測定. 共用・計測　合同シンポジウム2014. 2014
  11. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, Todorovic, 清水 智子, Ruben Perez, クスタンセ オスカル. Adsorption Geometry of Pentacene on Ti02 anatase surface resolved by intra-molecular Atomic Force Microscopy imaging. MANA Symposium 2014. 2014
  12. クスタンセ オスカル. Characterization of pentacene on TiO2 (101) anatase surface by cantilever-based intra-molecular atomic force microscopy imaging. 1st KANSAI Nanoscience and Nanotechnology Intern. Symposium. 2014 招待講演
2013
  1. 清水 智子, ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, クスタンセ オスカル. NC-AFM/STM同時測定によるアナターゼ型酸化チタンTiO2（101）表面 および分子吸着の観測. 表面・界面スペクトロスコピー2013. 2013
  2. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, 清水 智子, クスタンセ オスカル. Atomic-scale Characterization of Pentacene and C60 on TiO2 (101) Anatase by Simultaneous Bimodal AFM/STM and Kelvin Probe Force Microscopy. ACSIN12 and ICSPM21. 2013
  3. ステソビック オレクサンダー, モレノ シエラ シーザー, 清水 智子, クスタンセ オスカル. Discriminating Atomic Species at the TiO2(101) Anatase Surface by Means of Simultaneous Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy. 12th International Conference on Atomically Controlled Surfaces. 2013
  4. クスタンセ オスカル. Clarifying atomic contrast of the TiO2(101) anatase surface by means of bimodal atomic force microscopy and simultaneous scanning tunnelling microscopy . Non-contact Atomic Force Microscopy 2013. 2013 招待講演
  5. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, クスタンセ オスカル. Atomic-scale imaging of TiO2(101) Anatase surface by simultaneous AFM/STM. International Symposium on Green Manufacturing and Applications. 2013
  6. モレノ シエラ シーザー, ステソビック オレクサンダー, Milica Todorovíc, James William Ryan, Emilio Palomares, Rubén Pérez, クスタンセ オスカル. Disentangling atomic contrast on bimodal atomic force microscopy and simultaneous scanning tunneling microscopy on the TiO2(101) anatase surface. IMAGINENANO 2013. 2013 招待講演
  7. クスタンセ オスカル. Clarifying atomic contrast of the TiO2(101) anatase surface by means of bimodal atomic force microscopy/spectroscopy and simultaneous scanning tunneling microscopy . 2013 Materials Research Society Spring Meeting. 2013 招待講演
  8. クスタンセ オスカル. Clarifying Atomic Contrast of the TiO2(101) Anatase Surface by Means of Bimodal Atomic Force Microscopy/Spectroscopy and Simultaneous Scanning Tunneling Microscopy. 2013 Materials Research Society Spring Meeting. 2013 招待講演
2012
  1. クスタンセ オスカル. Characterization of pentacene molecules adsorbed on the TiO2(101) anatase surface by means of bimodal atomic force microscopy and simultaneous scanning tunneling microscopy. SISYS2012. 2012 招待講演
2011
  1. クスタンセ オスカル. New Insights on Atomic Resolution Frequency Modulation Kelvin Probe Fo rce Microscopy Imaging of Semiconductors. 3rd Global COE Intl. Symposium: Electronic Devices Innovation. 2011 招待講演
  2. クスタンセ オスカル. Complex atomic assemblies produced at room temperature using atomic force microscopy. The 1st Forum on Trends in Nano-manufacturing. 2011 招待講演
  3. ファン チュンカイ, クスタンセ オスカル. Atomic-scale characterization of the (111), (110) and (100) surfaces of ceria single crystals with atomic force microscopy. Understanding Structure and Functions of Reducible Oxide Systems. 2011 招待講演
2010
  1. クスタンセ オスカル. Application of atomic force microscopy for atom manipulation and single atom chemical identification. 15th International Conference on Solid Films and Surfaces. 2010 招待講演
  2. クスタンセ オスカル. Application of atomic force microscopy for atom manipulation and single atom chemical identification on semiconductor surfaces. 27th European Conference on Surface Science (ECOSS 27). 2010 招待講演
  3. クスタンセ オスカル. Atomic force microscopy as a tool for atom manipulation at room temperature. 18th International Vacuum Congress (IVC-18). 2010
  4. クスタンセ オスカル. New Insights on Atomic Resolution FM- KPFM Imaging of Semiconductors. 13th Intl. Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy. 2010
  5. クスタンセ オスカル. Atomic force microscopy as a tool for atom manipulation. 1st European Nanomanipulation workshop. 2010 招待講演
  6. クスタンセ オスカル. Atomic force microscopy as a tool for complex nano-structuring one atom at a time. Foresight 2010: the Synergy of Molecular Manufacturing and AGI. 2010 招待講演
2009
  1. クスタンセ オスカル. Atomic force microscopy as a tool for atom manipulation. 2009 MRS Fall Meeting　tutorial on Object Oriented. 2009 招待講演
  2. クスタンセ オスカル. Energy dissipation in single-bond formation and vertical atom manipulation measured with an atomic force microscope. Energy Dissipation in Nanocontacts and Molecular Bonds. 2009 招待講演
  3. クスタンセ オスカル. Atom manipulation and single-atom chemical identification with AFM. Nanostructures at Surfaces International Conference. 2009 招待講演
  4. クスタンセ オスカル. Applications of AFM for atomic manipulation and spectroscopy. APS Physics - March Meeting 2009. 2009 招待講演
2008
  1. クスタンセ オスカル, 杉本宜昭, 阿部真之, 森田清三. Force Spectroscopy using cantilever higher flexural modes. 11th Int. Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy. 2008
  2. クスタンセ オスカル. Force spectroscopy based single atom chemical identification. Seeing at the Nanoscale VI. 2008 招待講演
  3. クスタンセ オスカル. Single-atom chemical identification using dynamic force spectroscopy. XI-th Symposium on Surface Physics. 2008 招待講演
  4. クスタンセ オスカル. Manipulation and chemical identification of individual atoms by dynamic force microscopy. Frontiers in Nanoscience: Spectroscopy at the nanometer scale. 2008 招待講演

その他の文献 TSV

2016
  1. 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー. 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3　[ISBN] 978-4-9900563-7-7. 1 (2016) 42-51
  2. 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠. 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向. 調査分析室レポート. (2016) 73-89
2008
  1. O. Custance, S. Morita. Materials Science - How to Move an Atom. Science. 319 [5866] (2008) 1051-1052 10.1126/science.1154853

公開特許出願 TSV

    ▲ページトップへ移動