New Insights on Atomic-Resolution Frequency-Modulation Kelvin-Probe Force-Microscopy Imaging of Semiconductors

著者	Sascha Sadewasser, Pavel Jelinek, Chung-Kai Fang, Oscar Custance, Yusaku Yamada, Yoshiaki Sugimoto, Masayuki Abe, Seizo Morita.
掲載誌名	Physical Review Letters 103 [26] 266103 ISSN: 10797114, 00319007 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社
発表年	2009
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1103/physrevlett.103.266103
この文献をMendeleyにインポート