HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Examining the CeO2(100) Surface at the Atomic Scale using Atomic Force Microscopy and Force SpectroscopyKIM Kyungmin, CUSTANCE, Oscar, ABE Masayuki, KAWAI, Shigeki. The 25th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2024 Conference). 2024年08月05日-2024年08月09日.NIMS著者クスタンセ オスカル川井 茂樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2024-09-19 03:14:58 +0900 更新時刻: 2024-09-19 03:14:58 +0900