HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(New Insights on Atomic Resolution FM- KPFM Imaging of Semiconductors)クスタンセ オスカル. 13th Intl. Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy. 2010.NIMS著者クスタンセ オスカルMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:08:24 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:00:41 +0900