研究論文

• Takao Shimizu, Kiliha Katayama, Takanori Kiguchi, Akihiro Akama, Toyohiko J. Konno, SAKATA, Osami, Hiroshi Funakubo. The demonstration of significant ferroelectricity in epitaxial Y-doped HfO2 film. Scientific Reports. (2016) 32931-1-32931-8
• K. D. R. N. Kalubowila, K. M. D. C. Jayathileka, L. S. R. Kumara, K. Ohara, S. Kohara, O. Sakata, M. S. Gunewardene, J. M. D. R. Jayasundara, D. P. Dissanayake, J. K. D. S. Jayanetti. Effect of Bath pH on Electronic and Morphological Properties of Electrodeposited Cu2O Thin Films. Journal of The Electrochemical Society. 166 [4] (2019) D113-D119 10.1149/2.0551904jes
• Shinji KOHARA, Osami SAKATA, Yohei ONODERA, Ippei OBAYASHI, Motoki SHIGA, Akihiko HIRATA, Yasuaki HIRAOKA. Understanding Diffraction from Disordered Materials and the Extraction of Topology Hidden in the Pairwise Correlations by Persistent Homology. Nihon Kessho Gakkaishi. 62 [1] (2020) 43-50 10.5940/jcrsj.62.43

書籍

• 坂田 修身, 木村滋. 薄膜回折: 電場印加下その場測定の紹介. 薄膜の評価技術ハンドブック. 2013 , 153-155
• 坂田 修身. 表面界面構造. 日本の結晶学(Ⅱ)―その輝かしい発展. 2014 , 127-128
• 木村滋, 坂田 修身. （放射光を用いた）X線反射率法. 薄膜の評価技術ハンドブック. 2013 , 150-152

会議録

• L. S. R. Kumara, Osami Sakata, Shinji Kohara, Anli Yang, Chulho Song, Kohei Kusada, Hirokazu Kobayashi, Hiroshi Kitagawa. Structural studies of metal nanoparticles using high-energy x-ray diffraction. AIP Conference Proceedings. 2016

口頭発表

• 坂田 修身. 薄膜・ナノ構造解析のためのX線回折の基礎. 日本結晶学会講習会「薄膜結晶の評価：基礎と応用」. 2015
• 一ノ瀬大地, 中島祟明, 江原祥隆, 及川貴弘, 清水荘雄, 坂田 修身, 山田智明, 舟窪浩. Zr/(Zr+Ti)比によって歪量を連続的に制御して作成した Pb(Zr,Ti)O3エピタキシャル薄膜の構造変化. 第33回強誘電体応用会議. 2016
• 吉松公平, 坂田 修身, 大友明. 高品質γ-Ti3O5 薄膜の合成と超伝導特性. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016

特許