研究論文

• Takao Shimizu, Kiliha Katayama, Takanori Kiguchi, Akihiro Akama, Toyohiko J. Konno, SAKATA, Osami, Hiroshi Funakubo. The demonstration of significant ferroelectricity in epitaxial Y-doped HfO2 film. Scientific Reports. (2016) 32931-1-32931-8
• K. D. R. N. Kalubowila, K. M. D. C. Jayathileka, L. S. R. Kumara, K. Ohara, S. Kohara, O. Sakata, M. S. Gunewardene, J. M. D. R. Jayasundara, D. P. Dissanayake, J. K. D. S. Jayanetti. Effect of Bath pH on Electronic and Morphological Properties of Electrodeposited Cu2O Thin Films. Journal of The Electrochemical Society. 166 [4] (2019) D113-D119 10.1149/2.0551904jes
• CHEN, Yanna, SAKATA, Osami, NANBA, Yusuke, LOKU SINGGAPPULIGE, Rosantha Kumara, Anli Yang, SONG, ChulHo, KOYAMA, Michihisa, Guangqin Li, Hirokazu Kobayashi, Hiroshi Kitagawa. Electronic Origin of Hydrogen Storage in MOF-covered Palladium Nanocubes Investigated by Synchrotron X-rays. COMMUNICATIONS CHEMISTRY. 1 (2018)

書籍

• 坂田 修身, 木村滋. 薄膜回折: 電場印加下その場測定の紹介. 薄膜の評価技術ハンドブック. 2013 , 153-155
• 坂田 修身. 表面界面構造. 日本の結晶学(Ⅱ)―その輝かしい発展. 2014 , 127-128
• 木村滋, 坂田 修身. （放射光を用いた）X線反射率法. 薄膜の評価技術ハンドブック. 2013 , 150-152

会議録

• L. S. R. Kumara, Osami Sakata, Shinji Kohara, Anli Yang, Chulho Song, Kohei Kusada, Hirokazu Kobayashi, Hiroshi Kitagawa. Structural studies of metal nanoparticles using high-energy x-ray diffraction. AIP Conference Proceedings. 2016

口頭発表

• 坂田 修身. 薄膜・ナノ構造解析のためのX線回折の基礎. 日本結晶学会講習会「薄膜結晶の評価：基礎と応用」. 2015
• 一ノ瀬大地, 中島祟明, 江原祥隆, 及川貴弘, 清水荘雄, 坂田 修身, 山田智明, 舟窪浩. Zr/(Zr+Ti)比によって歪量を連続的に制御して作成した Pb(Zr,Ti)O3エピタキシャル薄膜の構造変化. 第33回強誘電体応用会議. 2016
• 吉松公平, 坂田 修身, 大友明. 高品質γ-Ti3O5 薄膜の合成と超伝導特性. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016

特許