(New Insights on Atomic Resolution Frequency Modulation Kelvin Probe Fo rce Microscopy Imaging of Semiconductors)
| 著者 | クスタンセ オスカル. |
|---|---|
| 会議名 | 3rd Global COE Intl. Symposium: Electronic Devices Innovation |
| 発表年 | 2011 |
| 言語 | Japanese |