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Force Spectroscopy on Semiconductor Surfaces
(Force spectroscopy on semiconductor surfaces)

著者Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto.
タイトルNoncontact Atomic Force Microscopy Volume 2
出版社名Springer Berlin Heidelberg
発表年2009
言語English
ISBN9783642014949 9783642014956
DOI10.1007/978-3-642-01495-6_3

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