Force Spectroscopy on Semiconductor Surfaces
(Force spectroscopy on semiconductor surfaces)
| 著者 | Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto. |
|---|---|
| タイトル | Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2 |
| 出版社名 | Springer Berlin Heidelberg |
| 発表年 | 2009 |
| 言語 | English |
| ISBN | 9783642014949 9783642014956 |
| DOI | 10.1007/978-3-642-01495-6_3 |