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著者名Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto.
タイトルForce Spectroscopy on Semiconductor Surfaces

(Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2)
出版社名Springer Berlin Heidelberg
発表年2009
言語English
ISBN9783642014949 9783642014956
DOI10.1007/978-3-642-01495-6_3
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