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| 著者名 | Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto. |
|---|---|
| タイトル | Force Spectroscopy on Semiconductor Surfaces (Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2) |
| 出版社名 | Springer Berlin Heidelberg |
| 発表年 | 2009 |
| 言語 | English |
| ISBN | 9783642014949 9783642014956 |
| DOI | 10.1007/978-3-642-01495-6_3 |
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