Force Spectroscopy on Semiconductor Surfaces
(Force spectroscopy on semiconductor surfaces)
著者 | Oscar Custance, Noriaki Oyabu, Yoshiaki Sugimoto. |
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タイトル | Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2 |
出版社名 | Springer Berlin Heidelberg |
発表年 | 2009 |
言語 | English |
ISBN | 9783642014949 9783642014956 |
DOI | 10.1007/978-3-642-01495-6_3 |