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論文 TSV

2024
  1. T. Hamachi, T. Tohei, Y. Hayashi, S. Usami, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, A. Sakai. Analysis of local strain fields around individual threading dislocations in GaN substrates by nanobeam x-ray diffraction. Journal of Applied Physics. 135 [22] (2024) 225702 10.1063/5.0199961 Open Access

書籍 TSV

会議録 TSV

口頭発表 TSV

2024
  1. HAYASHI, Yusuke, 藤平哲也, 隅谷和嗣, 今井康彦, 木村滋, 宇佐美茂佳, 今西正幸, 森勇介, 分島彰男, 渡邉浩崇, 新田州吾, 本田善央, 天野浩, 酒井朗. In situ nanobeam X-ray diffraction of vertical power devices grown on OVPE-GaN substrates. 12th International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2024). 2024

その他の文献 TSV

公開特許出願 TSV

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