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論文 TSV

2024
  1. T. Hamachi, T. Tohei, Y. Hayashi, S. Usami, M. Imanishi, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, A. Sakai. Analysis of local strain fields around individual threading dislocations in GaN substrates by nanobeam x-ray diffraction. Journal of Applied Physics. 135 [22] (2024) 225702 10.1063/5.0199961 Open Access

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