In situ nanobeam X-ray diffraction of vertical power devices grown on OVPE-GaN substrates

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HAYASHI, Yusuke, 藤平哲也, 隅谷和嗣, 今井康彦, 木村滋, 宇佐美茂佳, 今西正幸, 森勇介, 分島彰男, 渡邉浩崇, 新田州吾, 本田善央, 天野浩, 酒井朗.

12th International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2024). 2024年11月03日-2024年11月08日.

作成時刻: 2025-02-23 03:12:00 +0900 更新時刻: 2025-02-23 03:12:00 +0900