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CドープIn-Si-O薄膜トランジスタの負バイアス不安定性
(Negative bias stress instability in C-doped In-Si-O thin film transistors)

著者栗島 一徳, 生田目 俊秀, 木津 たきお, 塚越 一仁, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋厚志.
会議名ULSIC vs TFT 2017
発表年2017
言語Japanese

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