CドープIn-Si-O薄膜トランジスタの負バイアス不安定性
(Negative bias stress instability in C-doped In-Si-O thin film transistors)
ULSIC vs TFT 2017. 2017年05月21日-2017年05月25日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-04-18 22:54:59 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:07:14 +0900