HOME > 口頭発表 > 書誌詳細CドープIn-Si-O薄膜トランジスタの負バイアス不安定性(Negative bias stress instability in C-doped In-Si-O thin film transistors)栗島 一徳, 生田目 俊秀, 木津 たきお, 塚越 一仁, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋厚志. ULSIC vs TFT 2017. 2017年05月21日-2017年05月25日.NIMS著者生田目 俊秀塚越 一仁女屋 崇大井 暁彦池田 直樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-04-18 22:54:59 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:07:14 +0900