HOME > 口頭発表 > 書誌詳細CドープIn-Si-O薄膜トランジスタの負バイアス不安定性(Negative bias stress instability in C-doped In-Si-O thin film transistors)栗島 一徳, 生田目 俊秀, 木津 たきお, 塚越 一仁, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋厚志. ULSIC vs TFT 2017. 2017.NIMS著者生田目 俊秀塚越 一仁大井 暁彦池田 直樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-04-18 22:54:59 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:07:14 +0900