HOME > 口頭発表 > 詳細CドープIn-Si-O薄膜トランジスタの負バイアス不安定性(Negative bias stress instability in C-doped In-Si-O thin film transistors)著者栗島 一徳, 生田目 俊秀, 木津 たきお, 塚越 一仁, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋厚志. 会議名ULSIC vs TFT 2017発表年2017言語Japanese