SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Influence of adsorbed oxygen concentration on characteristics of carbon-doped indium oxide thin-film transistors under bias stress


NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2021-03-19 03:00:19 +0900 更新時刻 :2021-03-19 03:00:37 +0900

    ▲ページトップへ移動