ホールトラップがCドープIn-Si-Oのトランジスタ特性へ及ぼす影響
(Influence of hole trapping on transistor characteristics for C-doped In-Si-O)
第64回 応用物理学会春季学術講演会. 2017.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-04-18 22:54:59 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:07:14 +0900