HOME > 口頭発表 > 書誌詳細光支援C-V法を用いたAl2O3/n-GaN界面ディープトラップの分析(Analysis of deep traps at Al2O3/n-GaN interface using photo-assisted C-V measurement)弓削 雅津也, 生田目 俊秀, 色川 芳宏, 大井 暁彦, 池田 直樹, 上殿 明良, サン リウエン, 小出 康夫, 大石 知司. Solid State Devices and Materials. 2018.NIMS著者弓削 雅津也生田目 俊秀色川 芳宏大井 暁彦池田 直樹サン リウエン小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-27 10:03:39 +0900更新時刻: 2018-09-27 10:03:39 +0900