光支援C-V法を用いたAl2O3/n-GaN界面ディープトラップの分析
(Analysis of deep traps at Al2O3/n-GaN interface using photo-assisted C-V measurement)
Solid State Devices and Materials. 2018年09月09日-2018年09月13日.
NIMS著者
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作成時刻: 2018-09-27 10:03:39 +0900更新時刻: 2018-09-27 10:03:39 +0900