HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Surface analysis of native oxides on GaN(0001): An LEIS and RHEED study色川 芳宏, 鈴木 拓, 弓削 雅津也, 大井 暁彦, 生田目 俊秀, 木本 浩司, 大西 剛, 三石 和貴, 小出 康夫. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017-12-15.NIMS著者色川 芳宏鈴木 拓弓削 雅津也大井 暁彦生田目 俊秀木本 浩司大西 剛三石 和貴小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-11-15 22:42:18 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:14:59 +0900
