HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Surface analysis of native oxides on GaN(0001): An LEIS and RHEED study色川 芳宏, 鈴木 拓, 弓削 雅津也, 大井 暁彦, 生田目 俊秀, 木本 浩司, 大西 剛, 三石 和貴, 小出 康夫. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017.NIMS著者色川 芳宏鈴木 拓弓削 雅津也大井 暁彦生田目 俊秀木本 浩司大西 剛三石 和貴小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-11-15 22:42:18 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:14:59 +0900