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著者名色川 芳宏, 鈴木 拓, 弓削 雅津也, 大井 暁彦, 生田目 俊秀, 木本 浩司, 大西 剛, 三石 和貴, 小出 康夫.
タイトルSurface analysis of native oxides on GaN(0001): An LEIS and RHEED study
(Surface analysis of native oxides on GaN(0001): An LEIS and RHEED study)
会議名第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会
発表年2017
言語日本語
外部での文献参照

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