HOME > Presentation > DetailSurface analysis of native oxides on GaN(0001): An LEIS and RHEED study色川 芳宏, 鈴木 拓, 弓削 雅津也, 大井 暁彦, 生田目 俊秀, 木本 浩司, 大西 剛, 三石 和貴, 小出 康夫. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017.NIMS author(s)IROKAWA, YoshihiroSUZUKI, TakuYUGE, KazuyaOHI, AkihikoNABATAME, ToshihideKIMOTO, KojiOHNISHI, TsuyoshiMITSUISHI, KazutakaKOIDE, YasuoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-11-15 22:42:18 +0900Updated at: 2018-06-05 14:14:59 +0900