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特許から探す
最終更新時刻: 2026-11-01 03:54:51 +0900
| 4464件の特許公開公報が見つかりました。公報は出版年月日順に表示しています。（ヘルプ） | |
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| メタノールを原料とする水素製造方法及び装置 (2006, US20060210471 A1 KR20050115912 20050115912 ) 機構所属の発明者: 安藤 寿浩 | |
| ライブラリ分析装置 (2006, 特開2006250556号 , 特許4590601号 ) 機構所属の発明者: 渡辺 遵 , 末原 茂 | |
| Ｘ線回折分析方法およびＸ線回折分析装置 (2006, 特開2006250642号 , 特許4581126号 ) 機構所属の発明者: 櫻井 健次 | |
| Ｘ線回折分析装置およびＸ線回折分析方法 (2006, 特開2006250646号 , 特許4604242号 ) 機構所属の発明者: 櫻井 健次 | |
| ステンシルマスク及びその製造方法 (2006, 特開2006253439号 , 特許4654383号 ) 機構所属の発明者: 安藤 寿浩 | |
| 粉末状蛍光体とその製造方法、発光デバイス及び照明装置 (2006, CN1834197 US20060208260A1 1710292 TW200634132 200634132 ) 機構所属の発明者: 廣崎 尚登 | |
| 光学素子及びその製造方法 (2006, 特開2006243523号 , 特許4665162号 ) 機構所属の発明者: 栗村 直 , 中村 優 | |
| 物体の歪を検出する方法およびその装置 (2006, 特開2006242819号 , 特許5164086号 ) 機構所属の発明者: 澤田 勉 , 不動寺 浩 | |
| 光学分析用チップとその製造方法、光学分析用装置、および光学分析方法 (2006, WO2006093055 ) 機構所属の発明者: 宮崎 英樹 | |
| 電磁波共振の共振方法、およびこれに用いる電磁波共振器とその製造方法 (2006, WO 2006093056 A1 WO2006093056 ) 機構所属の発明者: 宮崎 英樹 |