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著者名Ashutosh Kumar, Kazutaka Mitsuishi, Toru Hara, Koji Kimoto, Yoshihiro Irokawa, Toshihide Nabatame, Shinya Takashima, Katsunori Ueno, Masaharu Edo, Yasuo Koide.
タイトルComparative Analysis of Defects in Mg-Implanted and Mg-Doped GaN Layers on Freestanding GaN Substrates
掲載誌名Nanoscale Research Letters 13 1
発表年2018
言語English
DOI10.1186/s11671-018-2804-y
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