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著者名井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 武田 寛之, 小出 康夫, ヤン アンリ, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 山口智広, 金子昌充, 上松 尚, 荒木努, 名西やすし.
タイトル硬X線光電子分光法を用いたMgドープIn0.70Ga0.30Nの 表面-バルク電子状態評価
(Surface and Bulk Electronic structures of Mg doped In0.70Ga0.30N Analyzed by Hard X-ray Spectroscopy)
会議名第60回応用物理学会春季学術講演会
発表年2013
言語Japanese
外部での文献参照

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