HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Study of Bottom Electrode Effect on Interface Reaction in Resistive Changing Memory Structure長田 貴弘, 山下 良之, 吉川 英樹, 井村 将隆, オウ セウンジン, 小橋 和義, 知京 豊裕. 2015 IWDTF. 2015.NIMS著者長田 貴弘山下 良之吉川 英樹井村 将隆知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:01:32 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:16:00 +0900