硬X線光電子分光法を用いたInNの表面電子状態評価
(Surface Electronic structures of InN Analyzed by Hard X-ray Spectroscopy)
第72回応用応用物理学会学術講演会. 2012年09月11日-2012年09月14日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:59:26 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:10:59 +0900