HOME > 口頭発表 > 書誌詳細硬X線光電子分光法を用いたInNの表面電子状態評価(Surface Electronic structures of InN Analyzed by Hard X-ray Spectroscopy)井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 小出 康夫, ヤン アンリ, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 金子昌充, 金子昌充, 山口智広, 上松 尚, 荒木努, 名西やすし. 第72回応用応用物理学会学術講演会. 2012.NIMS著者井村 将隆津田 俊輔長田 貴弘小出 康夫山下 良之吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 10:59:26 +0900 更新時刻 :2018-06-05 13:10:59 +0900