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硬X線光電子分光法を用いたInNの表面電子状態評価
(Surface Electronic structures of InN Analyzed by Hard X-ray Spectroscopy)

井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 小出 康夫, ヤン アンリ, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 金子昌充, 金子昌充, 山口智広, 上松 尚, 荒木努, 名西やすし.
第72回応用応用物理学会学術講演会. 2012.

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    作成時刻 :2017-02-14 10:59:26 +0900 更新時刻 :2018-06-05 13:10:59 +0900

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