HOME > 口頭発表 > 書誌詳細p-GaN中の結晶欠陥の複合的な評価(Comprehensive characterization of crystalline defects in p-GaN)小出 康夫, 坂田 修身, 渡邊 賢司, 三石 和貴, 生田目 俊秀, 色川 芳宏. 応用物理学会 結晶工学分科 会第149回結晶工学分科会研究会. 2018-06-15. 招待講演NIMS著者小出 康夫渡邊 賢司三石 和貴生田目 俊秀色川 芳宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-07-05 16:46:29 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:41 +0900