HOME > 口頭発表 > 詳細NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3TFTの信頼性特性(Reliability of an amorphous carbon-doped In2O3 thin-film transistors under negative and positive bias stress)著者小林 陸, 生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志. 会議名2020年第67回応用物理春季学術講演会発表年2020言語Japanese
