HOME > 口頭発表 > 書誌詳細NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3TFTの信頼性特性(Reliability of an amorphous carbon-doped In2O3 thin-film transistors under negative and positive bias stress)小林 陸, 生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志. 2020年第67回応用物理春季学術講演会. 2020年03月12日-2020年03月15日.NIMS著者生田目 俊秀大井 暁彦池田 直樹長田 貴弘塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900 更新時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900