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NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3TFTの信頼性特性
(Reliability of an amorphous carbon-doped In2O3 thin-film transistors under negative and positive bias stress)

著者小林 陸, 生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志.
会議名2020年第67回応用物理春季学術講演会
発表年2020
言語Japanese

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