HOME > 口頭発表 > 書誌詳細NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3TFTの信頼性特性(Reliability of an amorphous carbon-doped In2O3 thin-film transistors under negative and positive bias stress)小林 陸, 生田目 俊秀, 栗島 一徳, 女屋 崇, 大井 暁彦, 池田 直樹, 長田 貴弘, 塚越 一仁, 小椋 厚志. 2020年第67回応用物理春季学術講演会. 2020.NIMS著者生田目 俊秀大井 暁彦池田 直樹長田 貴弘塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900更新時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900