NBS及びPBSによるアモルファスCarbon-doped In2O3TFTの信頼性特性
(Reliability of an amorphous carbon-doped In2O3 thin-film transistors under negative and positive bias stress)
2020年第67回応用物理春季学術講演会. 2020年03月12日-2020年03月15日.
NIMS著者
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作成時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900 更新時刻: 2020-03-14 03:00:21 +0900