硬X線光電子分光法を用いたMgドープInNの表面およびバルク電子状態評価
(Surface and Bulk Electronic Structure of Mg-doped InN Analyzed by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy )
第31回電子材料シンポジウム. 2012年07月11日-2012年07月13日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:01:50 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:22:57 +0900