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著者名井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 小出 康夫, ヤン アンリ, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 金子昌充, 金子昌充, 山口智広, 上松 尚, 荒木努, 名西やすし.
タイトル硬X線光電子分光法を用いたMgドープInNの表面およびバルク電子状態評価
(Surface and Bulk Electronic Structure of Mg-doped InN Analyzed by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy )
会議名第31回電子材料シンポジウム
発表年2012
言語Japanese
外部での文献参照

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