HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Effect of ZrO2-seed-layer on ferroelectricity of HfxZr1-xO2 thin film for memory applications女屋 崇, 生田目 俊秀, 栗島 一徳, 澤本直美, 大井 暁彦, 池田 直樹, 知京 豊裕, 小椋厚志. XXVI International Materials Research Congress. 2017.NIMS著者生田目 俊秀大井 暁彦池田 直樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-04-22 22:26:56 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:08:15 +0900