SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

InGaNの表面-バルク電子状態評価
(Surface and Bulk Electronic Structures of InGaN)

井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 山下 良之, 吉川 英樹, 小出 康夫, 小林 啓介, 太田優一, 村田秀信, 山口智広, 金子昌充, 荒木努, 名西やすし.
第80回応用物理学会秋季学術講演会. 2019年09月18日-2019年09月21日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2019-09-28 23:56:10 +0900更新時刻: 2019-09-28 23:56:10 +0900

    ▲ページトップへ移動