HOME > Presentation > DetailInGaNの表面-バルク電子状態評価(Surface and Bulk Electronic Structures of InGaN)井村 将隆, 津田 俊輔, 長田 貴弘, 山下 良之, 吉川 英樹, 小出 康夫, 小林 啓介, 太田優一, 村田秀信, 山口智広, 金子昌充, 荒木努, 名西やすし. 第80回応用物理学会秋季学術講演会. 2019.NIMS author(s)IMURA, MasatakaTSUDA, ShunsukeNAGATA, TakahiroYAMASHITA, YoshiyukiYOSHIKAWA, HidekiKOIDE, YasuoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2019-09-28 23:56:10 +0900Updated at: 2019-09-28 23:56:10 +0900