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Photoelectron Spectroscopic Study on High-k Dielectrics Based Nanoionics-Type ReRAM Structure under Bias Operation

ECS TRANSACTIONS 301-310. 2014.

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    作成時刻: 2017-02-27 02:31:50 +0900更新時刻: 2024-05-03 11:16:56 +0900

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