HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Siナノワイヤ中のBアクセプタ濃度分布の定量評価(Quantitative analysis of boron concentration in Si nanowaires)滝口亮, 石田慎哉, 横野茂輝, 深田 直樹, 陳 君, 関口 隆史, 菱田 俊一, 村上浩一. 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. 2010.NIMS著者深田 直樹陳 君菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:41:17 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:53:24 +0900