SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名滝口亮, 石田慎哉, 横野茂輝, 深田 直樹, 陳 君, 関口 隆史, 菱田 俊一, 村上浩一.
タイトルSiナノワイヤ中のBアクセプタ濃度分布の定量評価
(Quantitative analysis of boron concentration in Si nanowaires)
会議名2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会
発表年2010
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動